[实用新型]用于半导体芯片制造的刻蚀装置有效
申请号: | 202121890726.9 | 申请日: | 2021-08-13 |
公开(公告)号: | CN216250642U | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 陈雅丽 | 申请(专利权)人: | 陈雅丽 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 合肥市科融知识产权代理事务所(普通合伙) 34126 | 代理人: | 蔡辉 |
地址: | 471000 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 半导体 芯片 制造 刻蚀 装置 | ||
1.用于半导体芯片制造的刻蚀装置,其特征在于:包括操作台(1)、晶圆片夹取机构(2)、刻蚀机构(3)和清洗机构(4),所述刻蚀机构(3)包括刻蚀液储藏箱(31)、刻蚀液水泵(32)、刻蚀液连通管(33)、刻蚀液管道支架(34)和刻蚀液反应池(35),所述刻蚀液储藏箱(31)设置在所述操作台(1)一侧,所述刻蚀液水泵(32)设置在所述刻蚀液储藏箱(31)内侧底部,所述刻蚀液连通管(33)的一端设置在所述刻蚀液水泵(32)的输出端外侧,所述刻蚀液反应池(35)设置在所述操作台(1)上方,所述刻蚀液管道支架(34)设置在所述刻蚀液反应池(35)靠近所述刻蚀液储藏箱(31)一侧,所述刻蚀液连通管(33)上部设置在所述刻蚀液管道支架(34)内侧,所述清洗机构(4)包括清洗水储藏箱(41)、清洗水泵(42)、清洗水连通管(43)、清洗水管道支架(44)和清洗池(45),所述清洗水储藏箱(41)设置在所述操作台(1)下方,所述清洗水泵(42)设置在所述清洗水储藏箱(41)内侧底部,所述清洗水连通管(43)一端设置在所述清洗水泵(42)的输出端外侧,所述清洗池(45)设置在所述操作台(1)上方远离所述刻蚀液储藏箱(31)一侧,所述清洗水管道支架(44)设置在所述清洗池(45)前方,所述清洗水连通管(43)上部设置在所述清洗水管道支架(44)内侧。
2.根据权利要求1所述的用于半导体芯片制造的刻蚀装置,其特征在于:所述刻蚀液储藏箱(31)与所述操作台(1)通过螺栓连接,所述刻蚀液水泵(32)与所述刻蚀液储藏箱(31)通过螺栓连接,所述刻蚀液连通管(33)与所述刻蚀液水泵(32)的输出端通过扎箍链接,所述刻蚀液反应池(35)与所述操作台(1)通过螺栓连接,所述刻蚀液管道支架(34)与所述刻蚀液反应池(35)通过螺栓连接,所述刻蚀液连通管(33)与所述刻蚀液管道支架(34)通过扎箍连接。
3.根据权利要求1所述的用于半导体芯片制造的刻蚀装置,其特征在于:所述清洗水储藏箱(41)与所述操作台(1)通过螺栓连接,所述清洗水泵(42)与所述清洗水储藏箱(41)通过螺栓连接,所述清洗水连通管(43)与所述清洗水泵(42)的输出端通过扎箍链接,所述清洗池(45)与所述操作台(1)通过螺栓连接,所述清洗水管道支架(44)与所述清洗池(45)通过螺栓连接,所述清洗水连通管(43)与所述清洗水管道支架(44)通过扎箍链接。
4.根据权利要求1所述的用于半导体芯片制造的刻蚀装置,其特征在于:所述晶圆片夹取机构(2)包括活动支架(21)、水平电动缸(22)、垂直电动缸(25)和晶圆片夹(26),所述活动支架(21)设置在所述操作台(1)上方前部,所述水平电动缸(22)的固定部设置在所述操作台(1)上方在所述活动支架(21)一侧,所述水平电动缸(22)的伸缩部设置在所述水平电动缸(22)的固定部与所述活动支架(21)之间,所述垂直电动缸(25)的固定部设置在所述活动支架(21)后部上方,所述晶圆片夹(26)设置在所述垂直电动缸(25)的伸缩部下方。
5.根据权利要求4所述的用于半导体芯片制造的刻蚀装置,其特征在于:所述操作台(1)上方成型有限位槽,所述活动支架(21)与所述操作台(1)通过限位槽滑动连接,所述水平电动缸(22)的固定部与所述操作台(1)通过螺栓连接,所述水平电动缸(22)的伸缩部与所述活动支架(21)通过螺栓连接,所述垂直电动缸(25)的固定部与所述活动支架(21)通过螺栓连接固定连接,所述晶圆片夹(26)与所述垂直电动缸(25)的伸缩部通过螺栓连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造