[实用新型]一种芯片外观缺陷抽检检测平台

权利要求书

1.一种芯片外观缺陷抽检检测平台，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部设置有输送装置(2)，所述壳体(1)的顶部固定连接有顶壳(3)，所述顶壳(3)的内壁顶部固定连接有固定壳(4)，所述固定壳(4)的内部设置有电机(5)，所述电机(5)的输出轴上固定连接有螺纹柱(6)，所述螺纹柱(6)的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳(4)的内壁上，所述螺纹柱(6)的表面设置有螺纹筒(7)，所述螺纹筒(7)的表面固定连接有活动块(8)，所述固定壳(4)的底部开设有矩形通孔(9)，所述活动块(8)活动连接在矩形通孔(9)的内部，所述活动块(8)的底部固定连接有固定座(10)，所述固定座(10)的底部开设有第一卡槽(13)，所述第一卡槽(13)的内部活动连接有安装座(12)，所述安装座(12)的底部固定连接有第一固定板(18)，所述安装座(12)的两个侧面均开设有第二卡槽(14)，所述固定座(10)的两个侧面均开设有活动孔(15)，所述活动孔(15)的内部活动连接有卡杆(16)，所述卡杆(16)的表面活动套接有弹簧(17)，所述卡杆(16)的一端卡接在第二卡槽(14)的内部，所述第一固定板(18)的底部设置有摄像头(19)，所述壳体(1)的侧面设置有控制箱(11)，所述控制箱(11)的内部设置有控制器，所述控制箱(11)的表面设置有警示灯(28)，所述顶壳(3)的相对内壁上分别设置有红外线发射器和红外线接收器。

2.根据权利要求1所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述壳体(1)的底部固定连接有支撑腿(20)，所述支撑腿(20)的底端固定连接有万向轮(21)，所述支撑腿(20)的侧面固定连接有第二固定板(22)，所述第二固定板(22)的顶部开设有螺纹孔(23)，所述螺纹孔(23)的内部螺纹连接有螺栓(24)，所述螺栓(24)的底端固定连接有底板(25)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述底板(25)的底部设置有橡胶垫(26)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述控制箱(11)的表面设置有控制开关(27)。

5.根据权利要求1所述的一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其特征在于：所述弹簧(17)的一端固定连接在固定座(10)上，所述弹簧(17)的另一端固定连接在卡杆(16)上。