[实用新型]一种芯片外观缺陷抽检检测平台

说明书

本实用新型属于芯片外观缺陷检测技术领域，涉及一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其中，包括壳体，所述壳体的内部设置有输送装置，所述壳体的顶部固定连接有顶壳，所述顶壳的内壁顶部固定连接有固定壳，所述固定壳的内部设置有电机，所述电机的输出轴上固定连接有螺纹柱，所述螺纹柱的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳的内壁上。其有益效果是，该芯片外观缺陷抽检检测平台，通过设置卡杆、弹簧和第二卡槽，通过拉动卡杆，在弹簧的弹力作用下，使卡杆的一端脱离第二卡槽，使安装座脱离第一卡槽，便于对摄像头进行拆卸，便于对摄像头进行检修或更换，且便于对摄像头进行安装。

技术领域

本实用新型属于芯片外观缺陷检测技术领域，具体涉及一种芯片外观缺陷抽检检测平台。

背景技术

外观检测是半导体芯片生产的最后一个重要环节，通过外观检测，可以发现并去除芯片外观的缺陷，保证芯片外观完整的同时，也可以避免由芯片外观缺陷导致的芯片功能缺陷。利用机器视觉实现芯片外观缺陷的自动化检测可以避免由于人工主观性带来的误差，降低生产的人工成本，提高生产效率，现有的芯片外观缺陷抽检检测平台大多通过摄像头进行检测，但摄像头在发生故障时，不便进行对摄像头进行拆卸和安装，且在对芯片进行检测时较为不便。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种芯片外观缺陷抽检检测平台，其解决了不便对摄像头进行拆卸和安装的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片外观缺陷抽检检测平台，包括壳体，所述壳体的内部设置有输送装置，所述壳体的顶部固定连接有顶壳，所述顶壳的内壁顶部固定连接有固定壳，所述固定壳的内部设置有电机，所述电机的输出轴上固定连接有螺纹柱，所述螺纹柱的一端固定连接有转轴，且转轴的一端设置有轴承，且轴承固定连接在固定壳的内壁上，所述螺纹柱的表面设置有螺纹筒，所述螺纹筒的表面固定连接有活动块，所述固定壳的底部开设有矩形通孔，所述活动块活动连接在矩形通孔的内部，所述活动块的底部固定连接有固定座，所述固定座的底部开设有第一卡槽，所述第一卡槽的内部活动连接有安装座，所述安装座的底部固定连接有第一固定板，所述安装座的两个侧面均开设有第二卡槽，所述固定座的两个侧面均开设有活动孔，所述活动孔的内部活动连接有卡杆，所述卡杆的表面活动套接有弹簧，所述卡杆的一端卡接在第二卡槽的内部，所述第一固定板的底部设置有摄像头，所述壳体的侧面设置有控制箱，所述控制箱的内部设置有控制器，所述控制箱的表面设置有警示灯，所述顶壳的相对内壁上分别设置有红外线发射器和红外线接收器。

作为本实用新型的进一步方案：所述壳体的底部固定连接有支撑腿，所述支撑腿的底端固定连接有万向轮，所述支撑腿的侧面固定连接有第二固定板，所述第二固定板的顶部开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺栓，所述螺栓的底端固定连接有底板。

作为本实用新型的进一步方案：所述底板的底部设置有橡胶垫。

作为本实用新型的进一步方案：所述控制箱的表面设置有控制开关。

作为本实用新型的进一步方案：所述弹簧的一端固定连接在固定座上，所述弹簧的另一端固定连接在卡杆上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该芯片外观缺陷抽检检测平台，通过设置卡杆、弹簧和第二卡槽，通过拉动卡杆，在弹簧的弹力作用下，使卡杆的一端脱离第二卡槽，使安装座脱离第一卡槽，便于对摄像头进行拆卸，便于对摄像头进行检修或更换，且便于对摄像头进行安装。

2、该芯片外观缺陷抽检检测平台，通过设置电机、螺纹柱、控制器、红外线发射器和红外线接收器，通过电机带动螺纹柱转动，使螺纹筒在螺纹柱的表面活动，使螺纹筒带动第一固定板活动，便于对摄像头的位置进行调节，通过红外线发射器和红外线接收器检测到芯片到达检测位置时，通过控制器关闭输送装置，使输送装置停置传输工作，使摄像头便于对芯片的外观进行检测，且当检测到芯片外观有缺陷时，使控制器启动警示灯，使工作人员能及时对有问题的芯片进行处理。