[实用新型]一种超辐射半导体二极管的管壳状态检测装置

说明书

本实用新型涉及二极管检测技术领域,公开了一种超辐射半导体二极管的管壳状态检测装置，包括信号源、差分放大电路、第一连接端、第二连接端和输出信号处理单元，信号源的信号输出端分别和所述第一连接端和差分放大电路的正输入端电连接，差分放大电路的负输入端与第二连接端电连接，差分放大电路的信号输出端、信号源的信号输出端和第二连接端分别与输出信号处理单元电连接，在实际使用时通过输出信号处理单元对差分放大电路的信号输出端、信号源的信号输出端和第二连接端的信号进行分析显示，当超辐射发光二极管的管壳在短路、断路或者非良好接触故障时显示出不同显示状态，以此实现超辐射发光二极管的管壳与管脚的状态检测。

技术领域

本实用新型涉及二极管检测技术领域，具体涉及一种超辐射半导体二极管的管壳状态检测装置。

背景技术

超辐射发光二极管(SLD)是一种绝佳的高功率宽带光源，如图1所示，其外观是有14个引脚的蝶形外观，主体为金属管壳和与之绝缘的14个金属管脚。超辐射发光二极管在生产制作过程中可能出现的故障之一是：管脚与管壳之间出现短路，因此作为产品质检环节的重要一环，需要一种仪器可以检测管壳与管脚的短路故障。

现有超辐射发光二极管的短路故障逻辑测试仪是利用NPN型三极管电路的基极检测从管脚到管壳是否有电流，以这种方式检测管脚与管壳之间的短路状态，但是此方法对于管脚与管壳之间存在的非良好接触短路故障不能进行很好的检测，其中非良好接触短路故障是指管脚与管壳之间存在连接但故障点接触不好，使用相关仪器如万用表的电阻档或二极管档测量时，表现出大电阻特性或二极管特性的连接状态，此时会出现三极管基极没有电流或电流不足，无法使三极管工作，被现有逻辑测试仪判定为断路状态。

实用新型内容

鉴于背景技术的不足，本实用新型是提供了一种超辐射半导体二极管的管壳状态检测装置，所要解决的技术问题是现有基于NPN型三极管电路的超辐射发光二极管的短路故障逻辑测试仪不能检测出超辐射发光二极管的非良好接触短路故障。

为解决以上技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：一种超辐射半导体二极管的管壳状态检测装置，包括信号源、差分放大电路、第一连接端、第二连接端和输出信号处理单元，所述信号源被配置于产生检测信号，所述信号源的信号输出端分别和所述第一连接端和差分放大电路的正输入端电连接，所述差分放大电路的负输入端与所述第二连接端电连接，所述差分放大电路的信号输出端、信号源的信号输出端和第二连接端分别与所述输出信号处理单元电连接。

在某种实施方式中，所述输出信号处理单元是示波器，所述示波器对所述差分放大电路的信号输出端、信号源的信号输出端和第二连接端的信号进行显示。

在某种实施方式中，所述信号源输出的检测信号为频率可调的正弦信号或者频率和脉宽可调的方波信号。

在某种实施方式中，所述差分放大电路包括运算放大器CMP、电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4，所述差分放大器CMP的正向输入端分别与电阻R1一端和电阻R3一端电连接，所述电阻R1另一端与信号源的信号输出端电连接，所述电阻R3另一端与差分放大器CMP的输出端电连接，所述差分放大器CMP的负向输入端分别与电阻R2一端和电阻R4一端电连接，所述电阻R2另一端与所述第二连接端电连接，所述电阻R4另一端接地。

在某种实施方式中，所述输出信号处理单元包括控制器和显示单元，所述控制器的信号接收端分别与所述差分放大电路的信号输出端、信号源的信号输出端和第二连接端电连接，所述控制器和显示单元电连接。

在某种实施方式中，所述显示单元为显示屏或者多个指示灯，所述控制器通过所述显示屏显示检测信息或者驱动所述指示灯发亮显示检测信息。