[实用新型]一种集成电路的封装检测装置

说明书

本实用新型提供一种集成电路的封装检测装置，包括底座、滑轨和移动板，底座内侧设有滑轨，且滑轨与底座活动连接，滑轨上端设有移动板，且移动板与滑轨活动连接，底座右侧设有检测箱，且检测箱与底座活动连接，检测箱左下端设有水箱，且水箱与检测箱固定连接，水箱上端设有注水口，且注水口与水箱固定连接，检测箱内侧左右上端分别设有出水管道。该种集成电路的封装检测装置通过结构的改进，使本装置在实际使用时，通过检测仪对集成电路的封装密封性能检测，加快了对集成电路检测的速度，使本装置在实际使用时，通过镜片和针孔探头对集成电路外表是否出现裂痕进行检测，避免因人工检测不到位，使不合格的集成电路流出市场。

技术领域

本实用新型涉及集成电路的封装技术领域，尤其是涉及一种集成电路的封装检测装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

在传统的集成电路的封装技术中，都需要对封装后的集成电路进行密封性能测试，在传统技术中，往往都是选用人工来检测集成电路的密封性能，然后通过往集成电路内侧注水，看集成电路是否有外溢，这样判定集成电路的密封性，人工检测速度慢，费时费力，对封装后的集成电路都需要对其表面进行检测，看看外表是否存在裂痕，传统技术中，都是用人工用放大镜来观察集成电路外表是否有裂痕，人工检测不到位，可能使不合格的集成电路流出市场。

因此，需要在现有集成电路的封装检测装置的基础上进行升级和改造，以克服现有问题和不足。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种集成电路的封装检测装置，以解决现有技术中存在的缺点。

上述目的通过以下技术方案来解决：

一种集成电路的封装检测装置，包括底座、滑轨和移动板，所述底座内侧设有滑轨，且滑轨与底座活动连接，所述滑轨上端设有移动板，且移动板与滑轨活动连接，所述底座右侧设有检测箱，且检测箱与底座活动连接，所述检测箱左下端设有水箱，且水箱与检测箱固定连接，所述水箱上端设有注水口，且注水口与水箱固定连接，所述检测箱内侧左右上端分别设有出水管道，且出水管道与检测箱固定连接，所述检测箱内侧设有水管，且水管与检测箱固定连接，所述检测箱内侧中端设有置物台，且置物台与检测箱固定连接，所述置物台上下两端设有第一卡扣，且第一卡扣与置物台卡合连接，所述检测箱内侧右上端设有接口，且接口与检测箱固定连接，所述检测箱右侧设有检测仪，且检测仪与检测箱固定连接，所述检测仪内侧设有压力表，且压力表与检测仪固定连接，所述压力表内侧设有指针，且指针与压力表活动连接，所述压力表下端设有旋转器，且旋转器与压力表活动连接，所述检测仪内侧设有显示器，且显示器与检测仪固定连接，所述检测仪内侧设有控制开关，且控制开关与检测仪固定连接，所述检测仪外侧设有压力管道，且压力管道与检测仪活动连接，所述压力管道外侧设有第二卡扣，且卡扣与压力管道卡合连接，所述检测仪右侧设有检测台，且检测台与检测仪固定连接，所述检测台左右上端分别设有固定板块，且固定板块与检测台固定连接，所述固定板上端设有支撑杆，且支撑杆与固定板固定连接，所述支撑杆下端均设有螺丝钉，且螺丝钉与支撑杆固定连接，所述检测台上端设有滚轴，且滚轴与检测台活动连接，所述滚轴下端分别设有伸缩杆，且伸缩杆与滚轴活动连接，所述伸缩杆中端设有伸缩器，且伸缩器与伸缩杆活动连接，所述伸缩杆底部分别设有镜片，且镜片与伸缩杆固定连接，所述镜片中心设有针孔探头，且针孔探头与镜片固定连接。

优选的，所述镜片为凸透镜。

优选的，所述第一卡扣依次为等距均匀排列分布。

优选的，所述伸缩器(26)、显示器(16)、检测仪(12)和伸缩杆(25)分别与外部电源电力连接。

优选的，滚轴左右两端分别设有支撑杆。