[实用新型]一种多工位测试设备有效
申请号: | 202122313162.9 | 申请日: | 2021-09-24 |
公开(公告)号: | CN216284227U | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 庞凯尹;宋斌杰;罗昌凌;翁巨贤;梁祖荣 | 申请(专利权)人: | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01D18/00 |
代理公司: | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王贤义 |
地址: | 519180 广东省珠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多工位 测试 设备 | ||
1.一种多工位测试设备,其特征在于:它包括底座(1)、载具移动模组、黑卡测试模组(3)以及双卡测试模组(4),所述载具移动模组包括Y轴驱动机构(201)以及设置在所述Y轴驱动机构(201)上的升降载具组件,所述黑卡测试模组(3)和所述双卡测试模组(4)设置在所述载具移动模组的上方且沿所述Y轴驱动机构(201)的长度方向依次设置,所述黑卡测试模组(3)包括沿所述Y轴长度方向依次设置的第一测试工位(301)和第二测试工位(302),所述第二测试工位(302)上设置有光学窗口,所述双卡测试模组(4)包括X轴驱动机构、Z轴驱动机构(401)以及并列设置在所述Z轴驱动机构(401)上的灰卡测试组件(402)以及补充卡测试组件(403),所述Z轴驱动机构(401)设置在所述X轴驱动组件的活动端上。
2.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备,其特征在于:所述升降载具组件包括移动板(202)、升降架(203)、升降驱动机构(204)以及夹紧组件,所述移动板(202)与所述Y轴驱动机构(201)的活动端连接,所述升降架(203)沿竖直方向滑动配合在所述移动板(202)上,所述升降驱动机构(204)固定在所述移动板(202)上,所述升降架(203)与所述升降驱动机构(204)的活动端上连接,所述升降架(203)上设置有产品限位槽,所述夹紧组件设置在所述产品限位槽的一侧。
3.根据权利要求2所述的一种多工位测试设备,其特征在于:所述夹紧组件包括压块(206)、限位板(207)以及复位弹簧(208),所述压块(206)滑动配合在所述升降架(203)上,所述压块(206)的中部设置有活动槽(209),所述限位板(207)固定在所述升降架(203)上且所述限位板(207)与所述活动槽(209)相配合,所述压块(206)的一端设置扳动块(210),所述压块(206)的另一端设置有与所述产品限位槽配合的压头,所述复位弹簧(208)设置在所述压头和所述限位板(207)之间,所述底座(1)上还设置有与所述夹紧组件配合的开合组件,所述开合组件包括开合气缸(211)以及拉钩(212),所述拉钩(212)固定设置在所述开合气缸(211)的活动端,所述拉钩(212)与所述扳动块(210)配合。
4.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备,其特征在于:所述黑卡测试模组(3)包括第一遮光罩(303)、第一支架(304)以及黑卡(305),所述第一支架(304)固定在所述底座(1)上,所述第一测试工位(301)和第二测试工位(302)沿直线依次设置在所述第一支架(304)上,所述黑卡(305)固定在所述第一支架(304)上且位于所述第一测试工位(301)和第二测试工位(302)的上方,所述第一测试工位(301)和第二测试工位(302)的底部设置有产品定位板(306),所述产品定位板(306)上设置有与产品相适配的通光孔,所述第一遮光罩(303)固定在所述第一支架(304)上并与所述第一支架(304)配合形成封闭空间,所述黑卡(305)和两组所述第一测试工位(301)均位于所述封闭空间内。
5.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备,其特征在于:所述X轴驱动机构包括第二支架(404)、驱动气缸(405)、活动板(406)以及两组第二遮光罩(407),所述第二支架(404)固定在所述底座(1)上,所述驱动气缸(405)固定在所述第二支架(404)上,所述活动板(406)沿垂直于所述Y轴驱动机构(201)的长度方向滑动设置在所述第二支架(404)上,所述活动板(406)与所述驱动气缸(405)的活动端连接,所述Z轴驱动机构(401)固定在所述活动板(406)上,所述活动板(406)上沿垂直于所述Y轴驱动机构(201)的长度方向依次设置有第三测试工位和第四测试工位,两组所述第二遮光罩(407)分别设置在第三测试工位和第四测试工位上,所述灰卡测试组件(402)以及所述补充卡测试组件(403)分别配合设置在两组所述第二遮光罩(407)上,所述Z轴驱动机构(401)带动所述灰卡测试组件(402)以及所述补充卡测试组件(403)在所述第二遮光罩(407)内作升降运动。
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