[实用新型]一种多工位测试设备

说明书

本实用新型旨在提供一种测试工位多、整体体积小、成本低的多工位测试设备。本实用新型包括底座、载具移动模组、黑卡测试模组以及双卡测试模组，载具移动模组包括Y轴驱动机构以及设置在Y轴驱动机构上的升降载具组件，黑卡测试模组和双卡测试模组设置在载具移动模组的上方且沿Y轴驱动机构的长度方向依次设置，黑卡测试模组包括沿Y轴长度方向依次设置的第一测试工位和第二测试工位，第二测试工位上设置有光学窗口，双卡测试模组包括X轴驱动机构、Z轴驱动机构以及并列设置在Z轴驱动机构上的灰卡测试组件以及补充卡测试组件，Z轴驱动机构设置在X轴驱动组件的活动端上。本实用新型应用于光学测试的技术领域。

技术领域

本实用新型应用于光学测试的技术领域,特别涉及一种多工位测试设备。

背景技术

在图像传感芯片的光学测试中，需要通过黑卡、灰卡和补充卡对图像传感芯片进行测试，而在不同测试卡和不同的测试距离下，图像传感芯片所表现出来的性能并不相同，而传统的测试设备采用转盘式或者并排式的设计。由于需要测试多种卡及多种距离，不同距离测试距离需要卡的大小不一样。如果采用转盘式，不同的测试卡体积不同，有的需要很大的空间，小卡占空间比较小，显得不协调。如果都采用单一方向并排式，则同样也需要占用较大的空间。

如公开号为208887897U的中国专利，其公开了一种应用于光学元件测试上的灰、黑卡暗箱结构，通过设置在所述暗箱外的灰卡移动装置，实现灰卡和黑卡的切换，进而实现提供一种更紧凑的测试结构，但如果需要兼容更多种类的测试环境，由于单个装置的结构较大，增加多个工位则还是会导致体积大幅增加。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种测试工位多、整体体积小、成本低的多工位测试设备。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底座、载具移动模组、黑卡测试模组以及双卡测试模组，所述载具移动模组包括Y轴驱动机构以及设置在所述Y轴驱动机构上的升降载具组件，所述黑卡测试模组和所述双卡测试模组设置在所述载具移动模组的上方且沿所述Y轴驱动机构的长度方向依次设置，所述黑卡测试模组包括沿所述Y轴长度方向依次设置的第一测试工位和第二测试工位，所述第二测试工位上设置有光学窗口，所述双卡测试模组包括X轴驱动机构、Z轴驱动机构以及并列设置在所述Z轴驱动机构上的灰卡测试组件以及补充卡测试组件，所述Z轴驱动机构设置在所述X轴驱动组件的活动端上。

由上述方案可见，由于黑卡、灰卡和补充卡大小不同，其中黑卡为面积较大的测试卡，而灰卡和补充卡均为面积较小的测试卡，其中补充卡用于根据待测产品特性进行设置的特定颜色或特定光学特性的测试卡，利用大卡和小卡在面积大小上的差异，将多个不同的工位巧妙的通过Y方向并排和X方向并排放到同一台设备中，有效的减小了测试设备的体积和降低设备的成本。利用大灰卡和补充卡在大小和测试距离相同或相近，将其安排在相近的工位中，这样可以共用Y轴的测试工位，也可以共用Z轴控制不同测试卡的不同测试距离。有效的减小了测试设备的体积和降低设备的成本。所述Y轴驱动机构用于带动所述升降载具组件移动到所述黑卡测试模组以及所述双卡测试模组的测试工位下，并通过所述升降载具组件的升降功能实现与测试模组对接。通过将所述黑卡测试模组的两组测试工位沿所述Y轴驱动机构的长度方向设置，进而保证两组测试工位均能够与所述升降载具组件配合。通过所述X轴驱动机构带动所述灰卡测试组件以及所述补充卡测试组件切换工位，进而实现所述灰卡测试组件以及所述补充卡测试组件共用一个测试工位，同时通过所述Z轴驱动机构进行所述灰卡测试组件以及所述补充卡测试组件的高度位置调整。

一个优选方案是，所述升降载具组件包括移动板、升降架、升降驱动机构以及夹紧组件，所述移动板与所述Y轴驱动机构的活动端连接，所述升降架沿竖直方向滑动配合在所述移动板上，所述升降驱动机构固定在所述移动板上，所述升降架与所述升降驱动机构的活动端上连接，所述升降架上设置有产品限位槽，所述夹紧组件设置在所述产品限位槽的一侧。