[实用新型]一种半导体测量设备有效

专利信息
申请号: 202122319963.6 申请日: 2021-09-24
公开(公告)号: CN216385479U 公开(公告)日: 2022-04-26
发明(设计)人: 朱跃柯 申请(专利权)人: 朱跃柯
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01N21/88;G01N21/01;B25H1/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 422407 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 测量 设备
【说明书】:

实用新型公开了一种半导体测量设备,涉及半导体技术领域,半导体测量设备,包括测量台和支撑柱,支撑柱固定于测量台左端中部,且支撑柱顶部垂直向上固定有立板;测量台上表面开有两条对角分布的转槽,且转槽内均转动连接有螺纹杆,螺纹杆外部均套入有与其螺纹连接的螺纹套,且螺纹套顶部焊接有直角夹板,直角夹板内壁均贴合有软垫;立板靠内的一侧开有侧口,且侧口内底部安装有电推杆,侧口内活动嵌入有向右侧延伸的活动杆,且活动杆外壁前后侧均开有滚槽;本实用新型有益效果为:便于根据不同尺寸的半导体进行调整固定,提高半导体在测量时的固定性,避免松动,同时有效提高了测量结果的准确性。

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域,特别是涉及一种半导体测量设备。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件,现有的半导体测量设备,再对不同尺寸大小的半导体进行测量时,设备难以根据尺寸的不同做出对应的固定松紧度,导致尺寸偏小的半导体测量时,固定性比较差,进而影响了测量的准确性。

实用新型内容

本实用新型提供了一种半导体测量设备以解决上述背景技术提出的测量设备难以根据不同尺寸的半导体进行固定,导致检测结果容易出现偏差的问题。

为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种半导体测量设备,包括测量台和支撑柱,所述支撑柱固定于测量台左端中部,且所述支撑柱顶部垂直向上固定有立板;

所述测量台上表面开有两条对角分布的转槽,且所述转槽内均转动连接有螺纹杆,所述螺纹杆外部均套入有与其螺纹连接的螺纹套,且所述螺纹套顶部焊接有直角夹板,所述直角夹板内壁均贴合有软垫;

所述立板靠内的一侧开有侧口,且所述侧口内底部安装有电推杆,所述侧口内活动嵌入有向右侧延伸的活动杆,且所述活动杆外壁前后侧均开有滚槽,所述滚槽内均滚动连接有若干颗滚珠;

所述活动杆外部活动套入有活动块,且所述活动块侧面中部开有通孔,所述活动块顶部螺纹贯穿有螺纹轴,且所述螺纹轴末端贯穿至通孔内部上方,所述螺纹轴末端固定有弧形卡片。

优选的,所述测量台外壁左后角和外壁右前角均固定有支板,且所述支板上方均安装有电动机。

优选的,所述螺纹杆末端贯穿出测量台外壁,且所述螺纹杆末端与相邻的所述电动机输出端固定连接。

优选的,所述螺纹套上表面凸出于转槽表面,且所述直角夹板位于测量台上表面,两块所述直角夹板成对角对称分布。

优选的,所述电推杆输出端连接有连杆,且所述连杆顶部与活动杆下表面左侧固定连接,所述活动杆左端固定有滑块。

优选的,所述侧口内壁左侧开有滑槽,且所述滑块滑入滑槽内并与其滑动连接。

优选的,所述通孔穿过所述活动杆,且所述滚珠外壁与通孔内壁滚动连接,所述弧形卡片位于活动杆上表面。

优选的,所述活动块底部安装有激光测量头,且所述激光测量头平行于两块所述直角夹板之间上方。

本实用新型实现的有益效果:

启动两个电动机并带动对应的螺纹杆进行转动,而此时的螺纹套将会沿着螺纹杆的螺纹进行移动,使得两块直角夹板之间的间距产生变化,使用者只需调整至两块直角夹板逐渐靠近被测量半导体的左后角和右前角即可,这样便可以实现根据不同尺寸大小的半导体进行固定,有效避免半导体因固定不够牢固而出现松动的现象,同时也有利于提高测量设备的测量精准性,并且利用直角夹板内壁的软垫能够减少直角夹板与半导体之间的摩擦,起到保护作用;

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