[实用新型]一种半导体晶片探针测试设备

说明书

本实用新型涉及探针测试仪技术领域，具体为一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与测试仪的表面固定连接。本实用新型，通过设置调节装置，对测试仪的高度进行调节，方便了较高工作人员对于测试仪的使用，降低了工作人员的工作劳度，提高了工作人员的工作效率。

技术领域

本实用新型涉及探针测试仪技术领域，尤其涉及一种半导体晶片探针测试设备。

背景技术

探针测试仪是电子加工厂中针对半导体晶片进行测试的设备，可对半导体晶片的电阻率等性能进行检测，从而可检测出生产的产品是否合格，是电子加工厂中重要的测试设备。

现探针测试设备大多由检测台及测试仪两大部分组成，其测试仪的结构比较单一，而工作人员的身高各有不同，较高的工作人员需要俯身较大角度对半导体晶片进行检测，从而增加了工作人员的工作劳度。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决较高人员使用检测仪时俯身较大角度工作会增加工作人员工作劳度的问题，而提出的一种半导体晶片探针测试设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与测试仪的表面固定连接，所述限位框的表面滑动连接有滑架，所述滑架的表面固定连接有支撑架，所述限位框的表面开设有若干个定位孔，滑框的内部滑动连接有限位杆，所述限位杆位于滑框内壁的一端固定连接有定位销，所述定位销的尺寸与定位孔的尺寸相适配。将定位销插入不同定位孔的内壁，即可实现对支撑架位置进行移动后的固定。

优选的，所述限位杆远离定位销的一侧转动连接有拉环，若干个所述定位孔线性排列在限位框的表面。拉环的设置方便了工作人员对于限位杆的控制。

优选的，所述限位杆位于限位销和滑框之间的表面套有弹簧，所述弹簧的两端分别与定位销和滑框固定连接。弹簧的设置具有驱动定位销卡进定位孔内壁的效果。

优选的，所述支撑架的端侧固定连接有圆形片，所述圆形片的表面胶接有橡胶块，所述橡胶块呈半球状结构。橡胶块的设置不仅增大了支撑架与桌面之间的摩擦力，而且避免了调节测试仪时，支撑架会对工作台造成挤压导致工作台台面损伤的情况。

优选的，所述测试仪的表面设有辅助装置，所述辅助装置包括两个导轨架，两个所述导轨架均与测试仪的表面固定连接，两个所述导轨架的表面滑动连接有滑架，所述滑架的内部滑动连接有压杆。将滑架滑动至需要按动按钮的位置，按压压杆即可实现对按钮的操控。

优选的，所述压杆的端侧固定连接有压块，压杆远离压块的一端固定连接有圆形块。压块的设置方便了对压杆的施压，圆形块的设置避免了压杆从滑架内部脱出的情况。

优选的，所述压杆的表面套有塔簧，所述弹簧的两端分别与压块和滑架固定连接。塔簧的设置具有驱动压块向远离滑架方向进行移动的效果。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于：