[实用新型]一种芯片测试治具

权利要求书

1.一种芯片测试治具，包括检测治具主体(1)、检测电路板(2)、针脚观测端(6)、接触通电板(9)，其特征在于：所述检测治具主体(1)的定侧面设置有用于检测芯片是否能够正常运作的检测电路板(2)；

所述检测电路板(2)的末端侧面设置有用于连接检测元件电路与芯片电路的接触通电板(9)，所述接触通电板(9)的上方设置有用于固定芯片位置的芯片固端(5)，所述芯片固端(5)的侧面设置有用于观察芯片针脚的针脚观测端(6)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述接触通电板(9)的上表面螺纹连接有外护壳(3)，所述接触通电板(9)的一端设置有开关(4)，所述接触通电板(9)的侧面固定连接有插排槽(14)，所述插排槽(14)的内侧插合连接有插排触片(10)，所述插排触片(10)固定连接在所述检测电路板(2)的一侧。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述接触通电板(9)的侧面开设有观测镜槽(8)，所述观测镜槽(8)的侧面下方两端固定连接有侧固杆座(7)，所述侧固杆座(7)的内侧固定连接有滑动杆(11)，所述滑动杆(11)的外侧滑动连接有滑动块(12)，所述滑动块(12)的顶端固定连接有调焦镜头(13)，所述调焦镜头(13)与所述观测镜槽(8)相对滑动。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述接触通电板(9)的上表面固定连接有两处针脚连接面板(15)，所述针脚连接面板(15)的上方固定连接有针脚穿插板(19)，所述针脚穿插板(19)的表面开设有观测缝隙(22)，所述观测缝隙(22)与所述观测镜槽(8)构成连通结构。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述芯片固端(5)包括旋钮(16)、上固盖(17)、下固座(18)，所述针脚穿插板(19)的顶端固定连接有下固座(18)，所述下固座(18)的侧面铰接有上固盖(17)，所述上固盖(17)的表面转动连接有旋钮(16)，所述下固座(18)的表面边缘处固定连接有契合块(20)，所述下固座(18)的内侧底面设置有针脚穿孔(21)，所述针脚穿孔(21)与所述观测缝隙(22)所处的位置相对应。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述上固盖(17)的内部中间位置固定连接有翻转环(25)，所述翻转环(25)与所述旋钮(16)固定连接，所述翻转环(25)的侧面固定连接有弹簧(24)，所述翻转环(25)侧边两处同线相对式固定连接有侧摆杆(26)，且所述侧摆杆(26)表面开设有腰槽，所述弹簧(24)的末端固定连接有挤压弹性片(23)，所述上固盖(17)的两侧面开设有滑动槽，且所述滑动槽内侧滑动连接有滑动块杆(27)，所述滑动块杆(27)向下延伸的圆杆通过所述腰槽与所述侧摆杆(26)构成活动连接，所述滑动块杆(27)与契合块(20)构成卡合连接。