[实用新型]一种芯片测试治具

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试治具，属于测试治具领域，一种芯片测试治具，包括检测治具主体、检测电路板、针脚观测端、接触通电板，所述检测治具主体的定侧面设置有用于检测芯片是否能够正常运作的检测电路板；所述检测电路板的末端侧面设置有用于连接检测元件电路与芯片电路的接触通电板，所述接触通电板的上方设置有用于固定芯片位置的芯片固端，所述芯片固端的侧面设置有用于观察芯片针脚的针脚观测端，所述接触通电板的上表面螺纹连接有外护壳，所述接触通电板的一端设置有开关，本新型实用的特征为，可以实现部分结构便于拆卸，以方便排除故障，可适应不同厚度和不同针脚长短的芯片，保持芯片针脚与测试元件连接的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及测试治具领域，更具体地说，涉及一种芯片测试治具。

背景技术

治具的分类，治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类，而项目测试类治具作为芯片测试的治具；

而芯片具有多种型号，不同型号的芯片厚度不同，针脚长短也有所区别，在对回收芯片进行测试时，也需要观察针脚是否弯曲，芯片的针脚是否与通电部分完全接触，来排除两者导致故障的问题。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种芯片测试治具，它可以实现部分结构便于拆卸，以方便排除故障，可适应不同厚度和不同针脚长短的芯片，保持芯片针脚与测试元件连接的稳定性。

2.技术方案

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

一种芯片测试治具，包括检测治具主体、检测电路板、针脚观测端、接触通电板，所述检测治具主体的定侧面设置有用于检测芯片是否能够正常运作的检测电路板；

所述检测电路板的末端侧面设置有用于连接检测元件电路与芯片电路的接触通电板，所述接触通电板的上方设置有用于固定芯片位置的芯片固端，所述芯片固端的侧面设置有用于观察芯片针脚的针脚观测端。

进一步的，所述接触通电板的上表面螺纹连接有外护壳，所述接触通电板的一端设置有开关，所述接触通电板的侧面固定连接有插排槽，所述插排槽的内侧插合连接有插排触片，所述插排触片固定连接在所述检测电路板的一侧。

进一步的，所述接触通电板的侧面开设有观测镜槽，所述观测镜槽的侧面下方两端固定连接有侧固杆座，所述侧固杆座的内侧固定连接有滑动杆，所述滑动杆的外侧滑动连接有滑动块，所述滑动块的顶端固定连接有调焦镜头，所述调焦镜头与所述观测镜槽相对滑动。

进一步的，所述接触通电板的上表面固定连接有两处针脚连接面板，所述针脚连接面板的上方固定连接有针脚穿插板，所述针脚穿插板的表面开设有观测缝隙，所述观测缝隙与所述观测镜槽构成连通结构。

进一步的，所述芯片固端包括旋钮、上固盖、下固座，所述针脚穿插板的顶端固定连接有下固座，所述下固座的侧面铰接有上固盖，所述上固盖的表面转动连接有旋钮，所述下固座的表面边缘处固定连接有契合块，所述下固座的内侧底面设置有针脚穿孔，所述针脚穿孔与所述观测缝隙所处的位置相对应。

进一步的，所述上固盖的内部中间位置固定连接有翻转环，所述翻转环与所述旋钮固定连接，所述翻转环的侧面固定连接有弹簧，所述翻转环侧边两处同线相对式固定连接有侧摆杆，且所述侧摆杆表面开设有腰槽，所述弹簧的末端固定连接有挤压弹性片，所述上固盖的两侧面开设有滑动槽，且所述滑动槽内侧滑动连接有滑动块杆，所述滑动块杆向下延伸的圆杆通过所述腰槽与所述侧摆杆构成活动连接，所述滑动块杆与契合块构成卡合连接。

3.有益效果

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：