[实用新型]半导体器件引线框架及半导体器件有效

专利信息
申请号: 202122466334.6 申请日: 2021-10-13
公开(公告)号: CN215911424U 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 夏大权;马鹏;余镇;周玉凤;徐向涛;马红强;王兴龙;李述洲 申请(专利权)人: 重庆平伟伏特集成电路封测应用产业研究院有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 张博
地址: 405200 重庆市梁平*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 引线 框架
【权利要求书】:

1.一种半导体器件引线框架,其特征在于,包括:框架本体以及沿其长度方向排布于框架本体上的多个框架单元,各个所述框架单元呈单排排列,所述框架单元包括基岛及独立设置于基岛底端的管脚组件,所述管脚组件包括并排布置的多个管脚,所述管脚靠近基岛的一端设置有管脚部,所述基岛的上表面设置有基岛网格,所述管脚部的背面设置有管脚网格。

2.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:每个所述框架单元中的管脚数量为4个,各个所述管脚沿横向均匀分布,且各个所述管脚的尺寸相同。

3.根据权利要求2所述的半导体器件引线框架,其特征在于:每个所述框架单元中各个管脚部之间相互独立、或者两个相邻管脚部连接、或者三个相邻管脚部连接。

4.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:所述基岛网格的深度与管脚网格的深度相同,所述基岛网格的尺寸大于管脚网格的尺寸。

5.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:所述基岛与管脚分别位于不同的平面,所述基岛所在平面与管脚所在平面之间具有高度差。

6.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:所述基岛的上表面沿其内边沿设置有防溢槽,所述防溢槽沿垂直于基岛平面的横截面呈U形。

7.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:所述基岛的顶端与框架本体之间设置有连接部,所述连接部上开设有第一锁胶孔,所述第一锁胶孔包括椭圆孔;所述管脚部的底端与管脚之间设置有第二锁胶孔,所述第二锁胶孔包括圆形孔。

8.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:所述管脚部的底端与管脚之间设置有锁胶槽,所述锁胶槽沿垂直于基岛平面的横截面呈V形。

9.根据权利要求1所述的半导体器件引线框架,其特征在于:所述框架本体的背面沿四周设置有梯台部,所述梯台部呈Z形。

10.一种半导体器件,其特征在于,包括:

如权利要求1~9中任一项所述的引线框架;以及

芯片,贴装于所述基岛上,所述芯片与对应的所述管脚组件电连接。

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