[实用新型]一种QFN芯片测试治具

权利要求书

1.一种QFN芯片测试治具，其特征在于包括底座、上压板、导向板、下压板、测试针，所述的底座设有限位槽，所述的限位槽位于底座右侧中心处，所述的限位槽不贯穿底座的主体，所述的上压板位于限位槽内，所述的上压板与底座通过螺栓相连，所述的导向板位于上压板外侧且位于限位槽内，所述的导向板与底座通过螺栓相连，所述导向板的顶面与底座的顶面平齐，所述导向板的材质为不锈钢，所述的下压板位于底座左侧，所述的下压板与底座通过螺栓相连，所述的测试针贯穿下压板、底座和上压板，所述的测试针与底座间隙配合相连，所述底座、上压板、下压板的材质为工程塑料。

2.如权利要求1所述的QFN芯片测试治具，其特征在于所述的上压板还设有定位槽，所述的定位槽位于上压板右侧，所述的定位槽不贯穿上压板的主体。

3.如权利要求2所述的QFN芯片测试治具，其特征在于所述的上压板还设有测试孔，所述的测试孔贯穿定位槽。

4.如权利要求2所述的QFN芯片测试治具，其特征在于所述的导向板还设有芯片槽，所述的芯片槽位于导向板中心处，所述的芯片槽贯穿导向板的主体，所述芯片槽的轴线与定位槽的轴线重合。

5.如权利要求4所述的QFN芯片测试治具，其特征在于所述的导向板还设有维护槽，所述的维护槽贯穿芯片槽的主体。

6.如权利要求3所述的QFN芯片测试治具，其特征在于所述的下压板还设有防脱孔，所述的防脱孔贯穿下压板的主体，所述防脱孔的轴线分别与测试针的轴线和测试孔的轴线重合。

7.如权利要求6所述的QFN芯片测试治具，其特征在于所述的测试针包括主体部、上插部、锥形测试部、下插部、球头部，所述的主体部贯穿底座，所述的主体部与底座间隙配合相连，所述的上插部位于主体部右侧且贯穿测试孔，所述的上插部与主体部一体相连，所述的锥形测试部位于上插部右侧，所述的锥形测试部与上插部一体相连，所述的下插部位于主体部左侧且贯穿防脱孔，所述的下插部与主体部一体相连，所述的球头部位于下插部左侧，所述的球头与下插部一体相连。