[实用新型]一种用于大电流测试的治具有效

专利信息
申请号: 202122500532.X 申请日: 2021-10-18
公开(公告)号: CN216434160U 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 谢后勇 申请(专利权)人: 深圳芯经纬科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R19/00
代理公司: 荆门市森皓专利代理事务所(普通合伙) 42253 代理人: 王丽
地址: 518110 广东省深圳市龙华区观澜街道大*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 电流 测试
【权利要求书】:

1.一种用于大电流测试的治具,其特征在于:包括底座、C型弹片阵列、填充块和PCB板,所述PCB板固定连接在底座下方,所述底座的内部设置有向下开口的容置腔,所述底座的顶部设置有与容置腔连通的测试窗口,所述C型弹片阵列包覆在填充块的两侧面,所述填充块为弹性材质构件,所述C型弹片阵列与填充块构成的整体嵌装在容置腔内,所述C型弹片阵列的顶端从测试窗口露出,所述C型弹片阵列的底端与PCB板电连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:还包括一T型压盖,所述T型压盖可移动的设置在底座的正上方。

3.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述底座上、位于测试窗口的四周设置有定位框。

4.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述底座和PCB板的四角设置有互相贯通的螺丝孔。

5.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述C型弹片阵列分成两组,两组的开口相对且朝向两组中心设置。

6.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述填充块两侧表面设置有与C型弹片阵列相配的安装槽。

7.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述填充块上下表面的两侧边设置有倒角。

8.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述填充块为硅胶或橡胶材质构件。

9.根据权利要求1所述的一种用于大电流测试的治具,其特征在于:所述C型弹片阵列包括多个平面结构C型弹片,所述平面结构C型弹片与容置腔接触侧面宽度大于垂直于该接触侧面的宽度。

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