[实用新型]一种用于大电流测试的治具

说明书

本实用新型公开了一种用于大电流测试的治具，包括底座、C型弹片阵列、填充块和PCB板，所述PCB板固定连接在底座下方，所述底座的内部设置有向下开口的容置腔，所述底座的顶部设置有与容置腔连通的测试窗口，所述C型弹片阵列包覆在填充块的两侧面，所述C型弹片阵列与填充块构成的整体嵌装在容置腔内，所述C型弹片阵列的顶端从测试窗口露出，所述C型弹片阵列的底端与PCB板电连接，本实用新型的有益效果是：C型弹片的中部受弹性填充块的挤压抵接在底座容置腔的内壁，两者接触紧密，C型弹片的上下两端弯曲产生一定的弹力，方便与连接器弹性接触进行测试，由于该C型弹片的宽度较大，增加了电信号的过载路径的横截面积，从而得以通过大电流。

技术领域

本实用新型属于测试治具领域，具体涉及一种用于大电流测试的治具。

背景技术

在对某些连接器进行大电流测试时，目前的测试治具由于弹片或探针较细，难以施加大电流，造成这些治具难以进行大电流测试。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种用于大电流测试的治具。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于大电流测试的治具，包括底座、C型弹片阵列、填充块和PCB板，所述PCB板固定连接在底座下方，所述底座的内部设置有向下开口的容置腔，所述底座的顶部设置有与容置腔连通的测试窗口，所述C型弹片阵列包覆在填充块的两侧面，所述填充块为弹性材质构件，所述C型弹片阵列与填充块构成的整体嵌装在容置腔内，所述C型弹片阵列的顶端从测试窗口露出，所述C型弹片阵列的底端与PCB板电连接。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，还包括一T型压盖，所述T型压盖可移动的设置在底座的正上方。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述底座上、位于测试窗口的四周设置有定位框。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述底座和PCB板的四角设置有互相贯通的螺丝孔。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述C型弹片阵列分成两组，两组的开口相对且朝向两组中心设置。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述填充块两侧表面设置有与C型弹片阵列相配的安装槽。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述填充块上下表面的两侧边设置有倒角。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述填充块为硅胶或橡胶材质构件。

作为本实用新型用于大电流测试的治具的一种改进，所述C型弹片阵列包括多个平面结构C型弹片，所述平面结构C型弹片与容置腔接触侧面宽度大于垂直于该接触侧面的宽度。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：相对设置的C型弹片阵列被固定在底座与弹性填充块之间的间隙内，C型弹片的中部受弹性填充块的挤压抵接在底座容置腔的内壁，两者接触紧密，C型弹片的上下两端弯曲产生一定的弹力，方便与连接器弹性接触进行测试，由于该C型弹片的宽度较大，增加了电信号的过载路径的横截面积，从而得以通过大电流，使得该种弹片的检测治具的能够进行大电流测试，且该种弹片的使用寿命也可以得以延长，从而增加了该种弹片耐用性。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型去掉T型压盖后的结构示意图；

图3为本实用新型分解后的结构示意图；

图4为本实用新型内部侧视图。

具体实施方式