[实用新型]用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置有效

专利信息
申请号: 202122519276.9 申请日: 2021-10-19
公开(公告)号: CN216262401U 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 徐枭宇;杨渊思 申请(专利权)人: 杭州众硅电子科技有限公司
主分类号: B08B3/12 分类号: B08B3/12;B08B13/00;H01L21/67
代理公司: 杭州凯知专利代理事务所(普通合伙) 33267 代理人: 邵志
地址: 311300 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 清洗 排列 式兆声 装置
【权利要求书】:

1.用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于包括:

清洗槽(3),内部带有清洗液和兆声发生装置(31);

第一主动轴(1)和第二主动轴(2),平行设于清洗槽(3)内,且在驱动单元(4)的驱动下可绕其自身中心线周向旋转;

所述第一主动轴(1)上沿长度方向设有至少两个第一卡槽(11),所述第二主动轴(2)上沿长度方向设有至少两个第二卡槽(21),该第二卡槽(21)与第一卡槽(11)对应设置;

多片晶圆(5)分别通过第一卡槽(11)和第二卡槽(21)的配合实现放置,且所述第一主动轴(1)和第二主动轴(2)被构造为分别位于晶圆(5)的中轴线的两侧;

第一主动轴(1)和第二主动轴(2)沿相同方向转动,可摩擦驱动多片晶圆(5)同时转动,以实现清洗。

2.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:还包括从动轴(6),其设有至少两个限位槽(63),该限位槽(63)与第一卡槽(11)、第二卡槽(21)位于同一竖直平面内,晶圆(5)的边缘部分落入限位槽(63)内。

3.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述从动轴(6)被构造为位于晶圆(5)的下方,且偏离晶圆(5)的中轴线设置。

4.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述限位槽(63)的内壁与晶圆(5)之间形成间隙。

5.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述限位槽(63)的侧面与晶圆(5)接触,以带动所述从动轴(6)旋转,从动轴(6)外接转速检测单元(64)以监测晶圆(5)的转速,所述限位槽(63)的底面与晶圆(5)存在间隙。

6.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述第一主动轴(1)和第二主动轴(2)的旋转速度相同。

7.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述第一主动轴(1)和/或第二主动轴(2)的一端与清洗槽(3)侧壁相连,其另一端与驱动单元(4)相连;或者,所述第一主动轴(1)和/或第二主动轴(2)的一端悬空设于清洗槽(3)内,其另一端与驱动单元(4)相连。

8.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述从动轴(6)包括第一轴体(61)和第二轴体(62),该第一轴体(61)和第二轴体(62)同轴设置,且两者相邻的一端悬空设置。

9.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述第一主动轴(1)和/或第二主动轴(2)包括左侧轴体和右侧轴体,该左侧轴体和右侧轴体同轴设置,且分别由驱动单元(4)驱动旋转。

10.根据权利要求9所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述左侧轴体和右侧轴体的旋转速度不相同。

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