[实用新型]用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置有效
申请号: | 202122519276.9 | 申请日: | 2021-10-19 |
公开(公告)号: | CN216262401U | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 徐枭宇;杨渊思 | 申请(专利权)人: | 杭州众硅电子科技有限公司 |
主分类号: | B08B3/12 | 分类号: | B08B3/12;B08B13/00;H01L21/67 |
代理公司: | 杭州凯知专利代理事务所(普通合伙) 33267 | 代理人: | 邵志 |
地址: | 311300 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 清洗 排列 式兆声 装置 | ||
1.用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于包括:
清洗槽(3),内部带有清洗液和兆声发生装置(31);
第一主动轴(1)和第二主动轴(2),平行设于清洗槽(3)内,且在驱动单元(4)的驱动下可绕其自身中心线周向旋转;
所述第一主动轴(1)上沿长度方向设有至少两个第一卡槽(11),所述第二主动轴(2)上沿长度方向设有至少两个第二卡槽(21),该第二卡槽(21)与第一卡槽(11)对应设置;
多片晶圆(5)分别通过第一卡槽(11)和第二卡槽(21)的配合实现放置,且所述第一主动轴(1)和第二主动轴(2)被构造为分别位于晶圆(5)的中轴线的两侧;
第一主动轴(1)和第二主动轴(2)沿相同方向转动,可摩擦驱动多片晶圆(5)同时转动,以实现清洗。
2.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:还包括从动轴(6),其设有至少两个限位槽(63),该限位槽(63)与第一卡槽(11)、第二卡槽(21)位于同一竖直平面内,晶圆(5)的边缘部分落入限位槽(63)内。
3.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述从动轴(6)被构造为位于晶圆(5)的下方,且偏离晶圆(5)的中轴线设置。
4.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述限位槽(63)的内壁与晶圆(5)之间形成间隙。
5.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述限位槽(63)的侧面与晶圆(5)接触,以带动所述从动轴(6)旋转,从动轴(6)外接转速检测单元(64)以监测晶圆(5)的转速,所述限位槽(63)的底面与晶圆(5)存在间隙。
6.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述第一主动轴(1)和第二主动轴(2)的旋转速度相同。
7.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述第一主动轴(1)和/或第二主动轴(2)的一端与清洗槽(3)侧壁相连,其另一端与驱动单元(4)相连;或者,所述第一主动轴(1)和/或第二主动轴(2)的一端悬空设于清洗槽(3)内,其另一端与驱动单元(4)相连。
8.根据权利要求2所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述从动轴(6)包括第一轴体(61)和第二轴体(62),该第一轴体(61)和第二轴体(62)同轴设置,且两者相邻的一端悬空设置。
9.根据权利要求1所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述第一主动轴(1)和/或第二主动轴(2)包括左侧轴体和右侧轴体,该左侧轴体和右侧轴体同轴设置,且分别由驱动单元(4)驱动旋转。
10.根据权利要求9所述的用于清洗晶圆的排列式兆声清洗装置,其特征在于:所述左侧轴体和右侧轴体的旋转速度不相同。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州众硅电子科技有限公司,未经杭州众硅电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202122519276.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:红外成像系统及夜视设备
- 下一篇:一种具有稳定保护功能的可调节X型琴架