[实用新型]一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置有效
申请号: | 202122577522.6 | 申请日: | 2021-10-25 |
公开(公告)号: | CN216285005U | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 许超;陈宁娜 | 申请(专利权)人: | 中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 陶洪 |
地址: | 430080 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 荧光 光谱分析 玻璃 冷却 装置 | ||
1.一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,其包括顶面设有容纳槽的底座及一侧与所述底座侧部铰接的盖板,所述容纳槽内设有散热板,所述盖板转动时开闭所述容纳槽,所述盖板靠近所述容纳槽的一侧表面设有至少一个散热风扇,所述容纳槽内设有温度传感器,所述底座的一端外壁设有用于显示所述温度传感器检测温度的显示屏。
2.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述底座的底面凹陷形成散热槽,所述底座还开设有至少一个连通所述容纳槽和所述散热槽的散热孔。
3.根据权利要求2所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述散热槽的至少一端连通所述底座的端面。
4.根据权利要求2所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述散热孔内设有过滤网。
5.根据权利要求2所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述散热孔设于所述散热板的下方。
6.根据权利要求2所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述散热孔的中部向一侧弯折形成弯折部。
7.根据权利要求2所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述散热板可升降的设于所述容纳槽内。
8.根据权利要求7所述的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置,其特征在于,所述散热槽设有通过螺纹贯穿至所述容纳槽的调节螺栓,所述调节螺栓的顶部可旋转地连接于所述散热板底部。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司,未经中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202122577522.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可废料收集的模具生产用研磨设备
- 下一篇:一种饲料添加剂制料装置