[实用新型]一种具有数据分析的半导体载荷测试装置

说明书

本实用新型公开了一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台，所述工作台上固定安装有固定架，所述固定架和工作台之间转动安装有丝杆，所述丝杆的丝杆座上固定连接有连接板，所述连接板的下端通过连接杆安装有检测头，所述工作台上固定安装有底座，所述底座上安装有压力传感器，所述压力传感器上设置有支撑座，所述支撑座上开设有凹槽，所述支撑座上滑动安装有两组L形的支架，所述支架的内壁滑动安装有压板，本实用新型在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度。

技术领域

本实用新型涉及载荷测试技术领域，具体为一种具有数据分析的半导体载荷测试装置。

背景技术

载荷测试是指按桩的使用功能，分别在桩顶逐级施加轴向压力、轴向上拔力或在桩基承台底面标高一致处施加水平力，观测桩的相应检测点随时间产生的沉降、上拔位移或水平位移，根据荷载与位移的关系(即Q-S曲线)判定相应的单桩竖向抗压承载力、单桩竖向抗拔承载力或单桩水平承载力的试验方法，载荷在极短的时间内作用在构件上，在构件中所引起的应力可能很大，而材料的强度性质也与静载荷作用时不同，这种应力成为冲击应力。此外，当载荷作用在构件上时，如果载荷的大小经常作周期性的改变，材料的强度性质也将不同，这种载荷作用下的应力称为交变应力。

现有技术中用于半导体的载荷测试装置在测试半导体的荷载时对半导体的夹紧限位效果不好，检测头下压的过程中，半导体可能会发生位置上的偏移，降低了测试结果的精度，因此我们需要提出一种具有数据分析的半导体载荷测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台，所述工作台上固定安装有固定架，所述固定架和工作台之间转动安装有丝杆，所述丝杆的丝杆座上固定连接有连接板，所述连接板的下端通过连接杆安装有检测头，所述工作台上固定安装有底座，所述底座上安装有压力传感器，所述压力传感器上设置有支撑座，所述支撑座上开设有凹槽，所述支撑座上滑动安装有两组L形的支架，所述支架的内壁滑动安装有压板。

优选的，所述工作台的下端固定安装有电机，所述电机输出轴一端通过联轴器固定连接于丝杆的端部。

优选的，所述连接板的侧部固定连接有套环，所述固定架和工作台之间固定连接有立柱，所述套环滑动套设于立柱上。

优选的，所述支撑座上开设有第二滑槽，所述支架的下端固定连接有第二滑块，所述第二滑块滑动安装于第二滑槽的内部。

优选的，所述支架的内壁开设有第一滑槽，所述压板的侧部固定连接有第一滑块，所述第一滑块滑动安装于第一滑槽的内部。

优选的，所述压板上通过轴承转动连接有螺杆，所述支架上开设有螺纹孔，所述螺杆转动安装于螺纹孔的内部。

优选的，所述固定架的一侧固定安装有显示屏和PLC控制器，PLC控制器分别和显示屏与压力传感器电性连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过支架、压板和螺杆的设计，支架设置为L形的支架，推动支架，使两组支架相向移动，第二滑块滑动安装于第二滑槽的内部，第二滑块设置为截面为梯形的滑块，防止其在滑动的过程中脱离第二滑槽，且半导体抵触在支架的内壁上，螺杆带动压板向下移动，且压板紧紧的抵触在半导体的表面，对其起到限位的作用，压板的底部安装有橡胶垫，增加对半导体的限位效果，本实用新型在半导体载荷测试时提高了对半导体的夹紧限位效果，在较大程度上降低了检测头下压过程中半导体发生的偏移量，进而提高了测试结果的精度。

附图说明