[实用新型]测量装置及厚度测量系统

权利要求书

1.一种测量装置，用于测量待测件的厚度，其特征在于，包括：

测量架；

砧座组件，包括砧座上的测针，所述砧座组件沿第一方向可移动地设于所述测量架上，以使所述砧座能靠近或远离所述测量架；

测量组件，包括测量件的测头，所述测量组件沿所述第一方向可移动地设于所述测量架上，以使所述测量件能靠近或远离所述测量架；

其中，所述测量组件与所述砧座组件在第二方向间隔分布，所述第二方向垂直于所述第一方向，所述第二方向与所述待测件的厚度方向同向，以使所述测头与所述测针能分别与所述待测件的厚度方向两侧分别接触，以对所述待测件进行厚度测量。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述砧座组件和所述测量组件两者中的至少一者与所述测量架之间滑动配合。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

所述砧座组件包括第一滑杆，所述砧座设于所述第一滑杆上，所述测量架上设有第一滑轨，所述第一滑杆与所述第一滑轨滑动配合；

所述测量组件包括第二滑杆，所述测量件设于所述第二滑杆上，所述测量架上设有第二滑轨，所述第二滑杆与所述第二滑轨滑动配合；所述第一滑杆与所述第二滑杆沿所述第一方向延伸，所述第一滑轨与所述第二滑轨在所述测量架上沿所述第二方向间隔分布。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括：

第三滑轨，设于所述第二滑杆上，所述第三滑轨沿所述第二方向延伸设置；

测头安装架，用于供所述测量件安装，所述测头安装架与所述第三滑轨滑动配合，以调节所述测量件与所述砧座在所述第二方向上的间距。

5.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于，

所述第三滑轨一侧沿所述第二方向间隔刻有若干刻度线，各个刻度线旁对应刻有刻度值，所述刻度值用于与所述测量件的读数值配合以得出所述测头与所述测针之间的间距。

6.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，

所述测量架包括机架和立杆，所述立杆设于所述机架顶部并沿所述第二方向延伸，所述第一滑轨和所述第二滑轨分别连接于所述立杆两端。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，

所述立杆与所述第一滑轨，以及所述立杆和所述第二滑轨之间均设有加强杆，所述加强杆用于使所述立杆与所述第一滑轨，以及所述立杆和所述第二滑轨之间稳固。

8.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于，

所述第一滑杆和所述第二滑杆间设有连接杆，所述连接杆用于将所述第一滑杆和所述第二滑杆连接。

9.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述测量架底部设有万向轮。

10.厚度测量系统，其特征在于，包括待测件以及如权利要求1-9中任一项所述的测量装置，所述测针与所述测头分别与所述待测件在所述厚度方向的两侧相接触。