[实用新型]测量装置及厚度测量系统有效

专利信息
申请号: 202122704711.5 申请日: 2021-11-05
公开(公告)号: CN216205885U 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 钟林席;邓裕辉;李嘉荣;刘聪 申请(专利权)人: 广汽埃安新能源汽车有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 成都维飞知识产权代理有限公司 51311 代理人: 辛自强
地址: 511400 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置 厚度 系统
【说明书】:

本申请实施例提供了一种测量装置及厚度测量系统,属于测量技术领域。测量装置用于测量待测件的厚度,测量装置包括测量架、砧座组件和测量组件;砧座组件包括砧座上的测针,砧座组件沿第一方向可移动地设于测量架上,以使砧座能靠近或远离测量架;测量组件包括测量件的测头,测量组件沿第一方向可移动地设于测量架上,以使测量件能靠近或远离测量架;其中,测量组件与砧座组件在第二方向间隔分布,第二方向垂直于第一方向,第二方向与待测件的厚度方向同向,以使测头与砧座能分别与待测件的厚度方向两侧分别接触,以对待测件进行厚度测量。这种测量装置可以改善现有测量件测厚范围受限的问题。

技术领域

本申请涉及测量技术领域,具体而言,涉及一种测量装置及厚度测量系统。

背景技术

各冲压主机厂需要对冲压零件的板厚进行测量,一般板厚测量是使用现成的千分尺进行测量,但是由于现成的千分尺中C形套管的宽度非常有限,导致千分尺的测量范围较小,仅能对零件两侧一定宽度范围内的厚度进行测量,而零件的大部分位置的厚度无法直接测量,需要对零件进行切割,因而会造成零件的报废,测量范围非常受限。

实用新型内容

本申请实施例提供一种测量装置及厚度测量系统,以改善现有测量件测厚范围受限的问题。

第一方面,本申请实施例提供一种测量装置,测量装置用于测量待测件的厚度,测量装置包括测量架、砧座组件和测量组件;砧座组件包括砧座上的测针,砧座组件沿第一方向可移动地设于测量架上,以使砧座能靠近或远离测量架;测量组件包括测量件的测头,测量组件沿第一方向可移动地设于测量架上,以使测量件能靠近或远离测量架;其中,测量组件与砧座组件在第二方向间隔分布,第二方向垂直于第一方向,第二方向与待测件的厚度方向同向,以使测头与砧座能分别与待测件的厚度方向两侧分别接触,以对待测件进行厚度测量。

本方案中,砧座组件和测量组件两者可以在测量架上沿第一方向进行同向移动,从而可以相应调节测头与测针卡入待测件的测量深度,可对不同宽度的待测件的所有位置进行厚度测量,相比于常规的千分尺或测量工具而言,卡入待测件的测量深度固定且不可调,本方案中的测量装置中的砧座组件和测量组件可卡入待测件的测量深度可调,测量装置的测量范围更大。

在一些实施例中,砧座组件和测量组件两者中的至少一者与测量架之间滑动配合。

上述技术方案中,滑动配合的方式可以使得砧座组件或者测量组件在测量架上的移动更加可靠稳定,保证了砧座组件或者测量组件在移动时的稳定性。

在一些实施例中,砧座组件包括第一滑杆,砧座设于所述第一滑杆上,测量架上设有第一滑轨,第一滑杆与第一滑轨滑动配合;测量组件包括第二滑杆,测量件设于第二滑杆上,测量架上设有第二滑轨,第二滑杆与第二滑轨滑动配合;第一滑杆与第二滑杆沿第一方向延伸,第一滑轨与第二滑轨在测量架上沿第二方向间隔分布。

上述技术方案中,砧座组件和测量组件均与测量架之间滑动配合,且测量架上设有第一滑轨和第二滑轨,便于第一滑杆和第二滑杆在测量架上的滑动,控制更为方便。同时第一滑杆与第二滑杆沿第一方向延伸,利用第一滑杆和第二滑杆自身的长度,可沿着第一滑轨和第二滑轨伸出于测量架外,使得第一滑轨和第二滑轨不需要伸出于测量架外便可以实现测头与测针远离测量架,测量架结构更加紧凑。

在一些实施例中,测量组件还包括第三滑轨和测头安装架,第三滑轨设于第二滑杆上,第三滑轨沿第二方向延伸设置;测头安装架用于供测量件安装,测头安装架与第三滑轨滑动配合,以调节测量件与砧座在第二方向上的间距。

上述技术方案中,由于测量件的厚度测量范围有限,而现有的待测件的厚度差异较大,为了提高测量装置的厚度测量范围,因此通过在在第二滑杆上设置有第三滑轨,测量件安装在测头安装架上,测头安装架可以在第三滑轨上滑动,从而来调节测头与砧座之间的间距,从而可以突破测量件自身的测量范围有受限的问题,在计算待测件的厚度时,对测头安装架在第三滑轨上的滑动距离进行量化便可。

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