[实用新型]一种芯片不良检测定位设备

权利要求书

1.一种芯片不良检测定位设备，与微控制单元芯片相适配、用于实现所述微控制单元芯片的全脚位检测，其特征在于：设备由相匹配的夹具板（1）及检测板（2）构成；

所述夹具板（1）与所述微控制单元芯片相对应，所述夹具板（1）上设置有脚位连接端口，在所述夹具板（1）与所述微控制单元芯片二者的连接状态下，所述微控制单元芯片上的脚位与所述脚位连接端口逐一匹配对应并逐一电性连接，所述夹具板（1）的上还设置有与所述脚位连接端口逐一匹配对应的排针；

所述检测板（2）上设置有与所述夹具板（1）下端面的排针逐一匹配对应的排母（21），通过所述排针与所述排母（21）间的配合、所述夹具板（1）与所述检测板（2）之间实现电性连接，所述检测板（2）上还设置有用于显示脚位状态的LED显示灯珠矩阵（22），所述LED显示灯珠矩阵（22）由多颗带有对应脚位名称的LED灯珠构成，每颗所述LED灯珠均与所述排母（21）上的一个脚位匹配对应。

2.根据权利要求1所述的一种芯片不良检测定位设备，其特征在于：所述夹具板（1）由夹具结构及PCB板两部分构成，所述脚位连接端口设置于所述PCB板的上端面、所述排针设置于所述PCB板的下端面，所述夹具结构可活动地设置于所述PCB板的上端面、用于完成对所述微控制单元芯片的夹持固定并使所述微控制单元芯片上的脚位与所述脚位连接端口逐一电性连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片不良检测定位设备，其特征在于：所述排针与所述排母（21）上均设置有100个脚位，所述LED显示灯珠矩阵（22）由100颗所述LED灯珠构成，100颗所述LED灯珠排布形成一个10×10的矩阵结构。

4.根据权利要求1所述的一种芯片不良检测定位设备，其特征在于：所述检测板（2）上还设置有多套漏电增益放大显示单元，所述排母（21）上每个脚位与相对应的一颗所述LED灯珠之间均设置有一套所述漏电增益放大显示单元。

5.根据权利要求4所述的一种芯片不良检测定位设备，其特征在于：每套所述漏电增益放大显示单元均由一个第一电阻（3）、一个第二电阻（4）、一个运算放大器（5）以及一个NPN型的三极管（6）构成；

所述第一电阻（3）的输入端、所述运算放大器（5）的电源输入端以及所述三极管（6）的集电极三者分别与电流源电性连接，所述排母（21）上的一个脚位、所述第一电阻（3）的输出端、所述第二电阻（4）的输入端三者均电性连接至所述运算放大器（5）的正反馈端，所述第二电阻（4）的输出端接地，所述运算放大器（5）的输出端及负反馈端均电性连接至所述三极管（6）的基极，所述运算放大器（5）的接地端接地，所述三极管（6）的发射极与一颗所述LED灯珠电性连接。