[实用新型]大米加工精度分析仪图像检测机构

权利要求书

1.一种大米加工精度分析仪图像检测机构，包括支撑结构、设于支撑结构上的相机群组，其特征在于：所述支撑结构包括密封箱、位于密封箱上方的上支撑架单元、位于密封箱内侧的下支撑架单元，所述密封箱上表面设有贯通口且在贯通口处固定透明盖板，所述相机群组包括与上支撑架单元连接的左上相机和右上相机、与下支撑架单元连接的中下相机，所述左上相机位于透明盖板的左斜上方，右上相机位于透明盖板的右斜上方，左上相机和右上相机相对透明盖板对称分布，所述中下相机位于透明盖板正下方，所述上支撑架单元另连接朝向透明盖板的上光源组件，下支撑架单元另连接朝向透明盖板的下光源组件，所述密封箱上表面对应透明盖板前侧的位置用于固定向透明盖板传送待检测米粒的米粒流动盘，所述密封箱上表面在工作状态下倾斜于水平面。

2.根据权利要求1所述的大米加工精度分析仪图像检测机构，其特征在于：所述密封箱上表面在工作状态下与水平面的夹角为20°～40°。

3.根据权利要求1所述的大米加工精度分析仪图像检测机构，其特征在于：所述上光源组件由前上光源和后上光源构成，所述前上光源和后上光源在水平方向上位于透明盖板的前、后两侧，所述下光源组件由前下光源和后下光源构成，所述前下光源和后下光源在水平方向上位于透明盖板的前、后两侧。

4.根据权利要求1所述的大米加工精度分析仪图像检测机构，其特征在于：所述上支撑架单元由相机上支架组件、在水平方向上位于相机上支架组件前、后两侧的前上光源支架组件和后上光源支架组件构成，下支撑架单元由相机下支架组件、在水平方向上位于相机下支架组件前、后两侧的前下光源支架组件和后下光源支架组件构成。

5.根据权利要求4所述的大米加工精度分析仪图像检测机构，其特征在于：所述相机上支架组件和相机下支架组件分别由两个间隔分布的X向支架Ⅰ、连接于两个X向支架Ⅰ之间的Y向支架、设于Y向支架上的Z向支架Ⅰ构成，所述X向支架Ⅰ上设有与Y向支架连接的X向位置调节长孔Ⅰ，所述Y向支架上设有Y向位置调节长孔，所述Z向支架Ⅰ上设有Z向位置调节长孔Ⅰ，所述Y向位置调节长孔与Z向位置调节长孔Ⅰ交汇处利用固定件连接；相机上支架组件的Z向支架Ⅰ的数量为两个且与左上相机和右上相机一一对应，相机上支架组件的两个Z向支架Ⅰ的下端设有铰接轴Ⅰ和围绕铰接轴Ⅰ布置的定位孔Ⅰ，左上相机和右上相机分别具有与铰接轴Ⅰ铰接的定位座，所述定位座上设有与铰接轴Ⅰ同心的弧形孔Ⅰ，所述弧形孔Ⅰ与定位孔Ⅰ之间利用锁紧件Ⅰ固定，所述铰接轴Ⅰ的中心线与X轴平行；相机下支架组件的Z向支架Ⅰ的上端与中下相机的相机座固定连接。

6.根据权利要求4所述的大米加工精度分析仪图像检测机构，其特征在于：所述前上光源支架组件、后上光源支架组件、前下光源支架组件和后下光源支架组件分别由两个X向支架Ⅱ、与X向支架Ⅱ连接的Z向支架Ⅱ构成，所述X向支架Ⅱ上设有X向位置调节长孔Ⅱ，Z向支架Ⅱ上设有Z向位置调节长孔Ⅱ，X向位置调节长孔Ⅱ与Z向位置调节长孔Ⅱ交汇处利用固定件连接；前上光源支架组件的两个Z向支架Ⅱ的下端之间连接前上光源，后上光源支架组件的两个Z向支架Ⅱ的下端之间连接后上光源，前下光源支架组件的两个Z向支架Ⅱ的上端之间连接前下光源，后下光源支架的两个Z向支架Ⅱ的上端之间连接后下光源；前上光源、后上光源、前下光源和后下光源的两端分别设有铰接轴Ⅱ和定位孔Ⅱ，前上光源支架组件和后上光源支架组件的Z向支架Ⅱ下端固定有下连接座，所述下连接座与对应的铰接轴Ⅱ铰接，下连接座上另设有与前上光源或后上光源的定位孔Ⅱ对应的弧形孔Ⅱ，定位孔Ⅱ和弧形孔Ⅱ利用锁紧件Ⅱ固定；前下光源支架组件和后下光源支架组件的Z向支架Ⅱ上端固定有上连接座，所述上连接座与对应的铰接轴Ⅱ铰接，上连接座上另设有与前下光源或后下光源的定位孔Ⅱ对应的弧形孔Ⅲ，定位孔Ⅱ和弧形孔Ⅲ利用锁紧件Ⅲ固定，所述铰接轴Ⅱ的中心线与Y轴平行。

7.根据权利要求1所述的大米加工精度分析仪图像检测机构，其特征在于：所述密封箱为长方体状，其底部设有封板，所述下支撑架单元与密封箱的侧壁内表面连接固定，密封箱的侧壁上另开设有出线管接头。