[实用新型]一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统

权利要求书

1.一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，包括老炼板(1)、转接头(2)、控制板(3)及上位机；

待测DDR2存储器安装在老炼板(1)上，转接头(2)的一端与老炼板(1)连接；转接头(2)的另一端与控制板(3)连接；控制板(3)还与上位机连接；

安装有待测DDR2存储器的老炼板(1)设置在高温试验区，控制板(3)设置在常温区；

上位机，用于对控制板(3)的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示。

2.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上。

3.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)上还设置有第一金手指接口；所述第一金手指接口，用于与转接头(2)相连。

4.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，转接头(2)采用PCB板。

5.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，控制板(3)上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头(2)相连。

6.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，老炼板(1)设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25-150℃。

7.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，控制板(3)设置在烘箱的常温区。

8.根据权利要求1所述的一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示。

9.一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，其特征在于，包括若干试验子系统及上位机(4)；

每个试验子系统包括老炼板(1)、转接头(2)及控制板(3)，待测DDR2存储器安装在老炼板(1)上；转接头(2)的一端与老炼板(1)连接，转接头(2)的另一端与控制板(3)连接；

若干试验子系统中的控制板(3)依次级联相接后，与上位机(4)相连；

其中，每个试验子系统中的老炼板(1)设置在高温试验区，控制板(3)设置在常温区。