[实用新型]一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统

说明书

本实用新型公开了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板、转接头、控制板及上位机；待测DDR2存储器安装在老炼板上，转接头的一端与老炼板连接；转接头的另一端与控制板连接；控制板还与上位机连接；安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区；上位机，用于对控制板的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示；本实用新型通过转接头将老炼板与控制板相接，实现对老炼板与控制板的分区设置，避免了控制器陪练，突破了试验温度的限制；待测器件更换时，对老炼板与控制板进行成套更换，实现对待测期间进行高温动态老炼的测试要求，确保了实验温度的达标，保证了测试结果的准确性。

技术领域

本实用新型属于电子元器件可靠性筛选技术领域，特别涉及一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统。

背景技术

根据GJB548B《微电子器件试验方法和程序》第1015.1节中老炼试验规定，老炼试验用于剔除有隐患的器件或剔除那些有制造缺隐的器件，所述器件的失效与时间和应力有关，未经老炼试验的器件在正常使用条件下会早期失效；老炼试验能够使半导体器件在规定的条件下工作，以揭示随时间和应力变化的电气失效模式的等效筛选条件。

DDR2存储器等高端复杂存储器自身具有低电压电源、差分信号输入及高主频等特性，长期以来由于受制于现有老炼平台的技术状态，无法满足各项老炼筛选要求；目前，现有的老炼试验设备多采用静态老炼或个别单元读写验证老炼方式，且处于试用阶段。

现有的试验方案，由于控制器陪练问题，导致试验温度很难突破85℃大关；故急需开发一种可靠性高、成本低的高温动态老炼方案。

实用新型内容

针对现有技术中存在的技术问题，本实用新型提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，以解决现有的老炼试验设备，无法满足对DDR2存储器进行动态老炼试验，试验温度较低，可靠性较差的技术问题。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

本实用新型提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括老炼板、转接头、控制板及上位机；

待测DDR2存储器安装在老炼板上，转接头的一端与老炼板连接；转接头的另一端与控制板连接；控制板还与上位机连接；

安装有待测DDR2存储器的老炼板设置在高温试验区，控制板设置在常温区；

上位机，用于对控制板的上电及下电进行控制，并对回检信号进行显示。

进一步的，老炼板上设置有测试夹具模块，待测DDR2存储器安装在测试夹具模块上。

进一步的，老炼板上还设置有第一金手指接口，所述第一金手指接口，用于与转接头2相连。

进一步的，转接头采用PCB板。

进一步的，控制板上设置有第二金手指接口；所述第二金手指接口，用于与转接头相连。

进一步的，老炼板设置在烘箱的高温试验区；其中，烘箱的高温试验区的温度为25-150℃。

进一步的，控制板设置在烘箱的常温区。

进一步的，上位机中设置有触摸显示屏；所述触摸显示屏，用于对控制板上电或下电控制的指令输入，以及对回检信息的显示。

本实用新型还提供了一种用于DDR2存储器的高温动态老炼试验系统，包括若干试验子系统及上位机；

每个试验子系统包括老炼板、转接头及控制板，待测DDR2存储器安装在老炼板上；转接头的一端与老炼板连接，转接头的另一端与控制板连接；

若干试验子系统中的控制板之间采用级联后与上位机相连；