[实用新型]一种双向半导体晶圆测试夹具有效
申请号: | 202122883624.0 | 申请日: | 2021-11-23 |
公开(公告)号: | CN216434173U | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 龚健 | 申请(专利权)人: | 上海北臻电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人: | 王文锋 |
地址: | 201501 上海市金山*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双向 半导体 测试 夹具 | ||
1.一种双向半导体晶圆测试夹具,包括外支架(1),其特征在于:所述外支架(1)内底部通过下支杆(2)安装有下定位支座(3),所述外支架(1)顶部安装有气缸(6),所述气缸(6)下侧传动连接有伸缩杆(5),且伸缩杆(5)贯穿外支架(1)设置,所述伸缩杆(5)下端安装有上定位支座(4),所述上定位支座(4)和下定位支座(3)均包括设有的X轴压杆(12)、Y轴压杆(13)和弧形压杆(14),所述X轴压杆(12)、Y轴压杆(13)和弧形压杆(14)之间依次焊接。
2.根据权利要求1所述的一种双向半导体晶圆测试夹具,其特征在于:所述上定位支座(4)和下定位支座(3)上下对应设置,所述下定位支座(3)外侧与外支架(1)内壁固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种双向半导体晶圆测试夹具,其特征在于:所述X轴压杆(12)和Y轴压杆(13)垂直焊接成十字状,且X轴压杆(12)和Y轴压杆(13)采用的长度相同。
4.根据权利要求1所述的一种双向半导体晶圆测试夹具,其特征在于:所述上定位支座(4)下侧安装有上防滑垫(10),所述下定位支座(3)上侧安装有下防滑垫(9),所述上防滑垫(10)和下防滑垫(9)一侧均设置成锯齿状。
5.根据权利要求1所述的一种双向半导体晶圆测试夹具,其特征在于:所述弧形压杆(14)两端与X轴压杆(12)和Y轴压杆(13)一侧固定焊接,且多个弧形压杆(14)围合成圆形。
6.根据权利要求1所述的一种双向半导体晶圆测试夹具,其特征在于:所述上定位支座(4)外侧安装有导向块(11),且导向块(11)滑动卡设在外支架(1)内壁的导向槽(7)内。
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