[实用新型]一种用于检测芯片漏电流的检测设备

权利要求书

1.一种用于检测芯片漏电流的检测设备，包括装置主架（1），所述装置主架（1）的中间安装有输送带（2），所述输送带（2）的前表面中间设置有检测架（3），所述输送带（2）的前表面底端安装有芯片放置板（4），所述检测架（3）的后表面设置有检测头（14），其特征在于：所述芯片放置板（4）的前表面开设有三个放置槽（5），三个所述放置槽（5）的内部均安装有承载块（6），所述承载块（6）的后表面固定连接有推杆（8），所述推杆（8）的前表面和后表面均安装有固定导轨（10），两个所述固定导轨（10）均固定安装在芯片放置板（4）上，所述推杆（8）上安装有两个第一倾斜件和两个第二倾斜件，两个所述第一倾斜件和第二倾斜件的中间位置处均开设有倾斜槽，所述推杆（8）的后端安装有锁止件（9），所述锁止件（9）的后端活动安装有转动座（11），所述转动座（11）的后端固定安装有复位弹簧（12），所述锁止件（9）的顶端设置有两个第一倾斜部和两个第二倾斜部，两个所述第一倾斜部和第而倾斜部的中间位置均开设有斜向槽，所述推杆（8）的外表面设置有限位弹簧（13）。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述限位弹簧（13）的前端固定连接于承载块（6），所述限位弹簧（13）的后端固定连接于两个固定导轨（10）。

3.根据权利要求1所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述第一倾斜件的宽度大于斜向槽的宽度，所述第一倾斜部的宽度是第二倾斜部宽度的两倍。

4.根据权利要求1所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述检测架（3）的后表面两端均安装有支撑块（19），两个所述支撑块（19）的后端固定安装在装置主架（1）上，所述检测架（3）的两侧均固定连接有连接块（7），两个所述连接块（7）的后端分别与两个支撑块（19）可拆卸连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述连接块（7）的一侧设置有拨动块（15），所述拨动块（15）的内侧固定安装有连接柱（16），所述连接柱（16）的另一端固定连接有六角卡柱（18），所述连接柱（16）的外表面安装有固定弹簧（17）。

6.根据权利要求5所述的一种用于检测芯片漏电流的检测设备，其特征在于：所述支撑块（19）的一侧开设有六角凹槽，所述六角卡柱（18）可延伸至六角凹槽内进行卡合。