[实用新型]一种电流检测芯片的分离设备有效
申请号: | 202122941910.8 | 申请日: | 2021-11-26 |
公开(公告)号: | CN217009124U | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 马士强;赵显明 | 申请(专利权)人: | 嘉乐科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683;H01L21/687 |
代理公司: | 杭州奇炬知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33393 | 代理人: | 贺心韬 |
地址: | 361000 福建省厦门市翔安*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电流 检测 芯片 分离 设备 | ||
1.一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,包括工作台(1),所述工作台(1)上设置有用于固定晶圆的固定座(2)、顶升装置(3)和用于将晶片移送至封装装置的移送装置(4),所述固定座(2)穿设有通孔(5),晶圆位于所述通孔(5)内,所述顶升装置(3)位于所述通孔(5)下方,所述顶升装置(3)用于将位于通孔(5)内的晶圆顶起,所述固定座(2)设置有第一移动装置(6),所述第一移动装置(6)用于驱动所述固定座(2)前后左右移动,所述移送装置(4)包括第一驱动装置(7)和位于所述第一驱动装置(7)两侧的两个吸取装置(8),所述第一驱动装置(7)的输出轴通过连接杆(32)连接两个所述吸取装置(8),所述第一驱动装置(7)用于驱动两个所述吸取装置(8)延所述连接杆旋转,所述吸取装置(8)用于吸取被顶起的晶片。
2.根据权利要求1所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述连接杆底部设置有连接座(9),所述连接座(9)两端设置有第二移动装置(10),所述第二移动装置(10)连接所述吸取装置(8),当所述第一驱动装置(7)驱动所述吸取装置(8)旋转时,所述第二移动装置(10)驱动两个吸取装置(8)向连接杆靠近。
3.根据权利要求2所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述连接座(9)转动连接有固定台(11),所述固定台(11)固定连接所述工作台(1)。
4.根据权利要求2所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述连接座(9)上设置有两个滑轨(12),所述滑轨(12)设置有第二驱动装置(13),所述第二移动装置(10)包括第二移动板(14)和设置与第二移动板(14)上的第一安装块(15),所述第二移动板(14)设置有滑块(37),所述第二驱动装置(13)用于驱动所述滑块(37)沿所述滑轨(12)的长度方向移动,所述第一安装块(15)用于连接所述吸取装置(8)。
5.根据权利要求1所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述吸取装置(8)包括升降装置(16)、第三驱动装置(17)和吸嘴(18),所述升降装置(16)用于驱动所述吸嘴(18)上升或下降,所述第三驱动装置(17)用于驱动所述吸嘴(18)对晶片产生吸力。
6.根据权利要求5所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述升降装置(16)包括设置于第四驱动装置(19)和伸缩杆(20),所述第四驱动装置(19)用于驱动所述伸缩杆(20)伸长或缩短,所述吸嘴(18)位于所伸缩杆(20)上。
7.根据权利要求1所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述固定座(2)包括基座(21)和夹持板(22),所述基座(21)用于供晶圆放置,所述夹持板(22)用于抵接在晶圆上方,所述夹持板(22)和基座(21)一端转轴连接,所述夹持板(22)和基座(21)另一端卡扣连接。
8.根据权利要求1所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述第一移动装置(6)包括两对第一丝杆驱动装置(23)和第一移动板(24),所述第一丝杆驱动装置(23)用于驱动所述第一移动板(24)前后移动,所述第一移动板(24)上设置有第二丝杆驱动装置(25),所述第二丝杆驱动装置(25)连接所述固定座(2),所述第二丝杆驱动装置(25)用于驱动所述固定座(2)左右移动。
9.根据权利要求6所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述顶升装置(3)包括第五驱动装置(27)和气泵(28),所述第五驱动装置(27)设置有第二安装块(29),所述第五驱动装置(27)用于驱动所述第二安装块(29)上升或下降,所述第二安装块(29)设置有顶针(30)和两个通气孔(31),两个所述通气孔(31)均与所述气泵(28)通过气管(26)连接,当所述顶针(30)将晶片顶起时,所述气泵(28)通过两个通气孔(31)吸气。
10.根据权利要求9所述的一种电流检测芯片的分离设备,其特征在于,所述顶针(30)位于所述吸嘴(18)下方,当所述吸取装置(8)吸取晶片时,所述顶针(30)与所述吸嘴(18)正对。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造