[实用新型]缺陷检测装置有效
申请号: | 202123073299.8 | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN216847517U | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 翁卓豪;卢洋洋 | 申请(专利权)人: | 南京汇川工业视觉技术开发有限公司;南京汇川图像视觉技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 杨培权 |
地址: | 210000 江苏省南京市玄*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 检测 装置 | ||
本实用新型提供一种缺陷检测装置,包括传送平台、光源和相机;传送平台上用于放置待测工件;以待测工件为锚点,光源设置于待测工件左上方,相机设置于待测工件右上方;其中,光源发出的单个光束照射在待测工件上,发生镜面反射和漫反射,形成明场像与暗场像各自对应的两种反射光束,两种反射光束处于相机的视野范围内。由光源发出的单个光束在待测工件上产生的明场像和暗场像对应的两种反射光束可同时被相机的视野包括。该缺陷检测装置中仅使用单个相机和单个光源同时获取明场像和暗场像对应的两种反射光束,代替了现有技术采用多个相机和多个光源的技术方案,降低了设备成本和调试难度,具有设备成本低和调试难度小的优点。
技术领域
本实用新型涉及检测装置领域,尤其涉及一种缺陷缺陷检测装置。
背景技术
随着智能智造技术的发展,现代化工厂中的自动化程度越来越高,尤其是以往的人工产品检测流水线逐渐被智能技术替代。例如:在针对面板缺陷检测工作中,可基于视觉图像技术,完成高准度检测,无需人工进行辨别。
其中,不同类型的面板缺陷在特定光场下才能显现,如面板划伤、崩边等缺陷在明场像下更易显现,面板灰尘、异物等缺陷在暗场像下更易显现。因此需要相机同时捕捉明场像图像和暗场像图像。现有技术中,是通过采用多个相机与多个光源,相机与光源一一对应才能实现,这样导致设备成本高,并且所有光源和相机都需要调试,调试难度较高。
鉴于此,有必要提供一种新型的缺陷检测装置,以解决或至少缓解上述技术缺陷。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种缺陷检测装置,旨在解决现有技术中面板缺陷的缺陷检测装置设备成本高、调试难度高的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型提供一种缺陷检测装置,包括:
传送平台、光源和相机;
所述传送平台上用于放置待测工件;
以所述待测工件为锚点,所述光源设置于所述待测工件左上方,所述相机设置于所述待测工件右上方;
其中,所述光源发出的单个光束照射在所述待测工件上,发生镜面反射和漫反射,形成明场像与暗场像各自对应的两种反射光束,两种所述反射光束处于所述相机的视野范围内。
在一实施例中,若所述光源的宽度为d,所述光源的工作距离为w,所述光源的轴心方向与水平线夹角为θ,所述相机的拍摄方向与水平线夹角为α,则所述暗场像对应的第一入射光束在所述待测工件表面的第一位置范围如下:
所述明场像对应的第二入射光束在所述待测工件表面的第二位置范围如下:
其中,d为所述光源的宽度,w为所述光源的工作距离,θ为所述光源的轴心方向与水平线的第一夹角,α为所述相机的拍摄方向与水平线的第二夹角。由此得到第一入射光束和第二入射光束的位置范围与各参数之间的关系。
在一实施例中,若所述第一入射光束和所述第二入射光束相邻,且所述第一入射光束位于所述第二入射光束右侧,则所述第一入射光束和所述第二入射光束满足如下条件:
若所述第一入射光束和所述第二入射光束相邻,且所述第一入射光束位于所述第二入射光束右侧,则所述第一入射光束和所述第二入射光束满足如下条件:
其中,d为所述光源的宽度,w为所述光源的工作距离,θ为所述光源的轴心方向与水平线的第一夹角,α为所述相机的拍摄方向与水平线的第二夹角。
在一实施例中,所述若所述第一入射光束处于所述第二入射光束右侧,则所述第一入射光束和所述第二入射光束满足如下条件:
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