[实用新型]芯片测试装置及系统有效
| 申请号： | 202123126931.0 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN216449690U | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 萨斌;王刚 | 申请（专利权）人： | 北京集创北方科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 系统 | ||
1.一种芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：
装置主体；
移动产业处理器接口MIPI芯片，设置于所述装置主体上，所述MIPI芯片包括第一接口及第二接口，所述第一接口用于接收测试数据，所述第二接口连接于待测芯片，所述第二接口用于将所述测试数据传输到所述待测芯片，以对所述待测芯片进行测试。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一接口包括IIC接口，所述第一接口连接于第一寄存器配置装置，所述第一寄存器配置装置通过串行接口与上位机通信以接收测试数据，所述第一寄存器配置装置通过所述第一接口将测试数据发送到所述MIPI芯片，所述测试数据用于对所述MIPI芯片的寄存器进行配置。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述串行接口包括UART接口、CAN总线接口、SPI接口、USB接口的任一种。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二接口包括LVDS接口。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述芯片测试装置还包括第二寄存器配置装置，所述第二寄存器配置装置通过串行接口与上位机通信以接收参数调整数据，用于通过IIC接口将所述参数调整数据发送到所述MIPI芯片，参数调整数据用于对所述MIPI芯片的寄存器进行配置。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测芯片包括时序控制芯片。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试数据包括图形数据。
8.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：
上位机，用于提供测试数据；
第一寄存器配置装置，通过串行接口与上位机通信以接收测试数据，并通过第一接口将测试数据发送到MIPI芯片，所述测试数据用于对MIPI芯片的寄存器进行配置；
如权利要求1-7任一项所述的芯片测试装置。
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