[实用新型]成像式曲面波片延迟量测量系统有效
| 申请号： | 202123216897.6 | 申请日： | 2021-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN216524713U | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 冯婧;葛士军 | 申请（专利权）人： | 南京晶萃光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 211135 江苏省南京市江宁区天*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 成像 曲面 延迟 测量 系统 | ||
【权利要求书】：
1.成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，包括，
激光器(4)，其安装在波片架(5)底端，用于向待测波片(3)发出准直光源；
待测波片(3)，其安装在波片架(5)上，波片架(5)顶端安装有整形装置(2)；
偏振测量仪(1)，其位于整形装置(2)正上方。
2.根据权利要求1所述的成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，所述波片架(5)顶端直径小于底端直径，波片架(5)内对称安装有支架(6)，待测波片(3)位于支架(6)上。
3.根据权利要求2所述的成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，所述波片架(5)采用方形透明板件组件，且波片架(5)底端和顶端为开口。
4.根据权利要求2所述的成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，所述支架(6)为弹性板件。
5.根据权利要求1所述的成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，所述待测波片(3)的形态为曲面。
6.根据权利要求1所述的成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，所述偏振测量仪(1)为面阵式偏振测量仪。
7.根据权利要求1所述的成像式曲面波片延迟量测量系统，其特征在于，所述整形装置(2)水平或倾斜一定角度安装在波片架(5)上，偏振测量仪(1)安装在整形装置(2)另一端。
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