[实用新型]成像式曲面波片延迟量测量系统

说明书

本实用新型提供一种成像式曲面波片延迟量测量系统，包括激光器，其安装在波片架底端，用于向待测波片发出准直光源；待测波片，其安装在波片架上，波片架顶端安装有整形装置；偏振测量仪，其位于整形装置正上方，所述波片架顶端直径小于底端直径，波片架内对称安装有支架，待测波片位于支架上，通过计算机的光线追迹算法配合待测波片顶端的整形装置测量整个曲面上的真实相位延迟量。

技术领域

本实用新型属于偏振测量技术领域，具体涉及一种成像式曲面波片延迟量测量系统。

背景技术

波片是能使互相垂直的两光振动间产生附加光程差的光学器件，常规偏振测量设备均只能测试单点相位延迟或平面结构的相位延迟，相位延迟是光的相位在透过具有二相性或多向性的物质时发生偏转所产生的相位的延后作用，没有成熟的精确测量曲面延迟量精度的方法，现有单点检测设备用来测试单点托偏度并基于测试结果计算出材料膜层厚度以及相位延迟量的数值，面阵式偏振测量可以直接一次测量出一个平面完整的延迟量，但是均无法直接实现对曲面相位延迟量的精确测量。

实用新型内容

本实用新型的目的是，为了解决现有技术存在的问题，本实用新型提供一种成像式曲面波片延迟量测量系统。

本实用新型提供了如下的技术方案：

成像式曲面波片延迟量测量系统，包括激光器，其安装在波片架底端，用于向待测波片发出准直光源；

待测波片，其安装在波片架上，波片架顶端安装有整形装置；

偏振测量仪，其位于整形装置正上方。

进一步地，所述波片架顶端直径小于底端直径，波片架内对称安装有支架，待测波片位于支架上。

进一步地，所述波片架采用方形透明板件组件，且波片架底端和顶端为开口。

进一步地，所述支架为弹性板件。

进一步地，所述待测波片的形态为曲面。

进一步地，所述偏振测量仪为面阵式偏振测量仪。

进一步地，所述整形装置水平或倾斜一定角度安装在波片架上，偏振测量仪安装在整形装置另一端。

本实用新型的有益效果是：

1.通过计算机的光线追迹算法配合待测波片顶端的整形器装置测量出整个曲面上的真实相位延迟量。

2.可以直接对曲面相位延迟量进行精确测量。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型实施例一的主视结构示意图；

图2是本实用新型实施例二的主视结构示意图。

具体实施方式

实施例一

如图1所示，成像式曲面波片延迟量测量系统，采用投射式测量，包括激光器4，其安装在波片架5底端，用于向待测波片3发出准直光源；待测波片3的形态为曲面，待测波片3安装在波片架5上，波片架5顶端安装有整形装置2；偏振测量仪1，其位于整形装置2正上方，偏振测量仪1为面阵式偏振测量仪。

整形装置2位于待测波片3顶端，保证打到待测波片3上的光束是均匀光强的准直光，经过待测波片3后光束再做整形，被待测波片3变为非准直光的光束重新整形成准直光束进入偏振态探测器1内。

波片架5顶端直径小于底端直径，波片架5内对称安装有支架6，待测波片3位于支架6上，波片架5采用方形透明板件组件，且波片架5底端和顶端为开口，支架6为弹性板件。