[实用新型]一种物料表面缺陷检测设备

说明书

本实用新型提出了一种物料表面缺陷检测设备，包括隔纸上料仓、物料上料仓、隔纸上料装置、物料上料装置、载物台、视觉检测装置、物料下料装置以及隔纸吸取装置；所述隔纸上料仓与物料上料仓相邻设置，所述隔纸上料装置和物料上料装置均设置于隔纸上料仓、物料上料仓以及载物台的上方，且所述隔纸上料装置能够在隔纸上料仓和物料上料仓上方移动；所述物料上料装置能够在物料上料仓的上方移动；所述载物台能够朝靠近所述物料下料装置的方向移动经过所述视觉检测装置并将物料输送至所述物料下料装置的下方，所述视觉检测装置拍摄检测载物台上的物料的缺陷，所述物料下料装置将检测后的物料吸取至下料区，所述隔纸吸取装置将隔纸吸取放置于物料上。

技术领域

本实用新型涉及产线设备技术领域，尤其涉及一种物料表面缺陷检测设备。

背景技术

集成电路载板类物料作为集成电路的芯片载体，是一种现芯片内部电路与外部电路形成电气回路的关键结构件，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架和集成电路载板；大部分厂商需要是以人工检测为主,成本高，效率低，漏检率高。因此如何高效针对生产的薄型物料的质量进行缺陷检测是当前工厂内部急需解决的问题。

鉴于此，实有必要提供一种新型的物料表面缺陷检测设备以克服上述缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种物料表面缺陷检测设备，能够自动对物料进行检测，检测效率高，且漏检率低。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种物料表面缺陷检测设备，包括隔纸上料仓、物料上料仓、隔纸上料装置、物料上料装置、载物台、视觉检测装置、物料下料装置以及隔纸吸取装置；所述隔纸上料装置与物料上料装置呈直线分布，所述物料下料装置与隔纸吸取装置呈直线分布；所述隔纸上料仓与所述物料上料仓相邻设置，所述隔纸上料装置和所述物料上料装置均设置于所述隔纸上料仓、物料上料仓以及载物台的上方，且所述隔纸上料装置能够在所述隔纸上料仓和物料上料仓上方移动；所述物料上料装置能够在所述物料上料仓的上方移动；所述载物台能够朝靠近所述物料下料装置的方向移动经过所述视觉检测装置并将物料输送至所述物料下料装置的下方，所述视觉检测装置拍摄检测载物台上的物料的缺陷，所述物料下料装置将检测后的物料吸取至下料区，所述隔纸吸取装置将隔纸吸取放置于物料上。

优选的，所述物料上料仓的数量为两个，所述隔纸上料仓与两个物料上料仓相邻设置。

优选的，所述隔纸上料装置包括第一安装部以及第一取料机构；所述第一安装部滑动安装于所述物料表面缺陷检测设备的第一安装梁上，所述第一安装部上装设有第一升降组件，所述第一取料机构上装设有第一吸附件，所述第一取料机构与所述第一升降组件连接。

优选的，所述物料上料装置包括第二安装部以及第二取料机构；所述第二安装部滑动安装于所述物料表面缺陷检测设备的第一安装梁上，所述第二安装部上装设有第二升降组件，所述第二取料机构上装设有第二吸附件，所述第二取料机构与所述第二升降组件连接。

优选的，所述第一安装梁上设置有第一滑轨，所述隔纸上料装置的第一安装部上设置有第一滑块，所述第二安装部上设置有第二滑块，所述第一安装部通过所述第一滑块与第一滑轨滑动配合，所述第二安装部通过第二滑块与第一滑轨滑动配合。

优选的，所述物料表面缺陷检测设备还包括缓存移料装置，所述缓存移料装置包括第三安装部以及第三取料机构；所述第三安装部滑动安装于所述物料表面缺陷检测设备的第二安装梁上，所述第三安装部上装设有第三升降组件，所述第三取料机构上装设有第三吸附件，所述第三取料机构与所述第三升降组件连接。

优选的，所述缓存移料装置还包括流水线，所述流水线安装于所述物料下料装置和第三取料机构的下方，且所述流水线上设置有预存工位。

优选的，所述物料下料装置包括第四安装部以及第四取料机构；所述第四安装部滑动安装于所述物料表面缺陷检测设备的第二安装梁上，所述第四安装部上装设有第四升降组件，所述第四取料机构上装设有第四吸附件，所述第四取料机构与所述第四升降组件连接。