[实用新型]一种用于检测触控屏的探针测试装置

权利要求书

1.一种用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

包括电控箱，所述电控箱为内部中空的箱体结构，在电控箱的内部设置有控制电路板；所述电控箱的正面倾斜设置有测试平台，所述测试平台的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽，所述仿形定位槽设置有贯穿测试平台的探针通孔，所述电控箱的内部设置有探针升降组件，所述探针升降组件包括与所述控制电路板电连接的升降机构及设置在升降机构输出端的测试探针，且测试探针可升降地设置在探针通孔中。

2.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述升降机构固定设置在所述测试平台的底部，且升降机构的输出端与所述测试平台互相垂直设置。

3.根据权利要求2所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述升降机构包括与所述控制电路板电连接的升降气缸以及设置在升降气缸输出端的升降支架，所述升降支架可升降地设置在探针通孔的下方，所述测试探针固定设置在升降支架的顶部，且随着升降支架可升降地设置在探针通孔中。

4.根据权利要求3所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述升降支架包括升降顶板和升降底板，所述升降顶板与升降底板之间通过若干根支撑柱连接，且所述升降底板通过一连接板与升降气缸的输出端连接；所述测试平台的下表面位于探针通孔的四周分别垂直设有若干根导向柱，所述升降顶板的下表面正对于若干根导向柱的位置分别设有若干个套筒，且每个套筒对应套设在每根导向柱中。

5.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述电控箱为上端开口的箱体结构，所述测试平台倾斜覆盖在电控箱的开口上，且测试平台与水平面之间的倾斜角度为30°。

6.根据权利要求5所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述测试平台的上表面分别设有四个限位块，四个限位块均L型状结构，且四个限位块分别两两对称设置在探针通孔的四周并形成所述仿形定位槽。

7.根据权利要求6所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述仿形定位槽的两侧和下端分别各设有旋转限位组件，每个旋转限位组件均包括与所述控制电路板电连接的旋转电机以及设置在旋转电机输出端的旋转块，且每个旋转电机可带动其输出端上的旋转块在所述仿形定位槽的上方旋转。

8.根据权利要求7所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述仿形定位槽的两侧边和下端的边缘分别设置有旋转通孔，三个旋转电机分别设置在测试平台的下表面，且三个旋转电机的输出端分别穿过三个旋转通孔并伸出测试平台的上方。

9.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述电控箱的正面分别设置有启动开关和停止开关，所述启动开关和停止开关分别与所述控制电路板电连接；所述电控箱的内部设置有电池阀，所述电池阀与所述控制电路板电连接。

10.根据权利要求1所述的用于检测触控屏的探针测试装置，其特征在于：

所述电控箱的两侧分别设置有凹槽扣手部。