[实用新型]一种用于检测触控屏的探针测试装置

说明书

本实用新型涉及一种用于检测触控屏的探针测试装置，包括电控箱，所述电控箱为内部中空的箱体结构，在电控箱的内部设置有控制电路板；所述电控箱的正面倾斜设置有测试平台，所述测试平台的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽，所述仿形定位槽设置有贯穿测试平台的探针通孔，所述电控箱的内部设置有探针升降组件，所述探针升降组件包括与所述控制电路板电连接的升降机构及设置在升降机构输出端的测试探针，且测试探针可升降地设置在探针通孔中。本实用新型用于检测触控屏的探针测试装置，采用探针升降组件代替人工进行测试，能够保证检测的准确性和稳定性，并降低测试人员的劳动强度。

技术领域

本实用新型涉及触控屏检测设备技术领域，特别是涉及一种用于检测触控屏的探针测试装置。

背景技术

随着科技的发展，现在越来越多的电子设备摒弃了物理按键，采用更加美观便捷的触控屏来实现。在具有触控屏的电子产品组装之前，需要针对触控屏进行一个功能测试环节，以防止装配完成后的电子产品出现触控屏品质异常的问题。

现有的触控屏大多采用人工检测的方式，具体通过人工将探针与触控屏背部的探针接口连接，并通过电路的导通来判断触控屏的功能是否正常。而采用人工检测的方式不仅增加操作员的劳动强度，在人工对接探针接口的过程中有时候会产生微小的偏移从而导致触控屏的检测结果不够准确，需要进行复查才能得出准确数据，既导致了人工成本的增加，其检测效果也不够稳定。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于检测触控屏的探针测试装置，采用探针升降组件代替人工进行测试，能够保证检测的准确性和稳定性，并降低测试人员的劳动强度。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种用于检测触控屏的探针测试装置，包括电控箱，所述电控箱为内部中空的箱体结构，在电控箱的内部设置有控制电路板；所述电控箱的正面倾斜设置有测试平台，所述测试平台的上表面设置有用于对触控屏进行限位的仿形定位槽，所述仿形定位槽设置有贯穿测试平台的探针通孔，所述电控箱的内部设置有探针升降组件，所述探针升降组件包括与所述控制电路板电连接的升降机构及设置在升降机构输出端的测试探针，且测试探针可升降地设置在探针通孔中。

作为一种实施方式，所述升降机构固定设置在所述测试平台的底部，且升降机构的输出端与所述测试平台互相垂直设置。

作为一种实施方式，所述升降机构包括与所述控制电路板电连接的升降气缸以及设置在升降气缸输出端的升降支架，所述升降支架可升降地设置在探针通孔的下方，所述测试探针固定设置在升降支架的顶部，且随着升降支架可升降地设置在探针通孔中。

作为一种实施方式，所述升降支架包括升降顶板和升降底板，所述升降顶板与升降底板之间通过若干根支撑柱连接，且所述升降底板通过一连接板与升降气缸的输出端连接；所述测试平台的下表面位于探针通孔的四周分别垂直设有若干根导向柱，所述升降顶板的下表面正对于若干根导向柱的位置分别设有若干个套筒，且每个套筒对应套设在每根导向柱中。

作为一种实施方式，所述电控箱为上端开口的箱体结构，所述测试平台倾斜覆盖在电控箱的开口上，且测试平台与水平面之间的倾斜角度为30°。

作为一种实施方式，所述测试平台的上表面分别设有四个限位块，四个限位块均L型状结构，且四个限位块分别两两对称设置在探针通孔的四周并形成所述仿形定位槽。

作为一种实施方式，所述仿形定位槽的两侧和下端分别各设有旋转限位组件，每个旋转限位组件均包括与所述控制电路板电连接的旋转电机以及设置在旋转电机输出端的旋转块，且每个旋转电机可带动其输出端上的旋转块在所述仿形定位槽的上方旋转。

作为一种实施方式，所述仿形定位槽的两侧边和下端的边缘分别设置有旋转通孔，三个旋转电机分别设置在测试平台的下表面，且三个旋转电机的输出端分别穿过三个旋转通孔并伸出测试平台的上方。