[实用新型]物料状态检测装置

说明书

本实用新型涉及一种物料状态检测装置，其能够有效地检测待测物料的状态，提高后续的测试效率。该物料状态检测装置，包括：料梭组件，其中该料梭组件包括料梭基台、被设置于该料梭基台的驱动机构以及被可活动地设置于该料梭基台的料梭盘，并且该料梭盘被可驱动地连接于该驱动机构，用于在该料梭基台上运输待测物料；和传感器组件，其中该传感器组件包括被设置于该料梭基台的位移传感器，并且该位移传感器位于该料梭盘的运输路径的上方，用于在该料梭盘被该驱动机构驱动以运输该待测物料至该位移传感器的感应区，测量该待测物料的距离信息，以通过该距离信息判断该待测物料在该料梭盘上的状态。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试分选技术领域，特别是涉及一种物料状态检测装置。

背景技术

芯片技术作为现代电子信息产业的基础和核心，小到手机、电脑以及数码相机，大到5G、物料网以及云计算，全都是基于芯片技术的不断突破。而芯片的封装测试作为芯片生产过程中非常重要的一个环节，其是保证芯片品质和生产效率的关键技术。在芯片生产出来之后，通常需要通过分选机与测试机进行测试以判断芯片品质，而料梭就是在这个环节中运输芯片不可或缺的部分。但芯片在经由机械手分选以放入料梭的过程中可能会产生翘料和/或叠料问题，如果不能对其进行检测校正，不仅会因测试机压坏芯片而造成经济损失，而且还会大大降低后续的测试效率和准确性。

现有的技术方案通常是在料梭上设置透光槽，并在料梭的左右两侧对应地设置传感器的发射端和接收端，以在水平方向上检测料梭内盛载的芯片是否发生翘料问题。例如，当芯片未发生翘料时，此时透光槽内光路连通，光电开关的接收端能够接收到发射端所发射的光信号；而当芯片发生翘料以遮挡该透光槽时，该透光槽内的光路不通，光电开关的接收端将无法接收到发射端所发射的光信号，即光电开关的接收信号异常，发出报警，并在人工干预后继续下一步操作。

然而，当芯片不遮挡该透光槽时，就算该芯片发生翘料，该透光槽内的光路仍然连通，使得该光电开关的接收端仍能够接收到发射端所发射的光信号，也就是说，上述技术方案无法有效检测到芯片的特殊角度翘料，容易造成经济损失，降低后续的测试效率。

实用新型内容

本实用新型的一优势在于提供一种物料状态检测装置，其能够有效地检测待测物料的状态，提高后续的测试效率。

本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置，其中，在本实用新型的一实施例中，所述物料状态检测装置能够采用位移传感器在竖直方向上检测待测物料的距离变化，以有效地检测待测物料的特殊角度翘料。

本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置，其中，在本实用新型的一实施例中，所述物料状态检测装置能够区分所检测到的异常情况是属于翘料情况，还是叠料或缺料情况，以便进行相应的处理，提高处理效率。

本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置，其中，在本实用新型的一实施例中，所述物料状态检测装置能够在不影响料梭输送的情况下，对所述料梭盛载的该待测物料进行状态检测，有助于提高工作效率，确保后续工序的正常进行。

本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置，其中为了达到上述目的，在本实用新型中不需要采用昂贵的材料或复杂的结构。因此，本实用新型成功和有效地提供一解决方案，不只提供一种简单的物料状态检测装置，同时还增加了所述物料状态检测装置的实用性和可靠性。

为了实现本实用新型的上述至少一优势或其他优点和目的，本实用新型提供了一种物料状态检测装置，包括：

料梭组件，其中所述料梭组件包括料梭基台、被设置于所述料梭基台的驱动机构以及被可活动地设置于所述料梭基台的料梭盘，并且所述料梭盘被可驱动地连接于所述驱动机构，用于在所述料梭基台上运输待测物料；和