[发明专利]X射线荧光分析仪

权利要求书

1.一种X射线荧光分析仪，其特征在于，包括：

试料盒，容纳有液态试料；

X射线发生部，向所述试料盒内部的一侧面照射X射线；及

检测仪，为了在所述X射线发生部照射的X射线与所述试料盒内部的所述液态试料反应而向所述试料盒外侧释放荧光X射线时，使向所述试料盒外侧释放的荧光X射线在空气中的吸收实现最小化，从而沿着从所述试料盒内部向所述试料盒外侧释放的荧光X射线的距离最短的所述试料盒的一侧面布置，检测所述荧光X射线。

2.根据权利要求1所述的X射线荧光分析仪，其特征在于，

所述X射线发生部以所述X射线相对于所述试料盒四周面中朝向所述检测仪释放的所述荧光X射线的距离最短地形成的所述试料盒内侧壁面平行地照射的方式布置于所述试料盒的一侧面。

3.根据权利要求1所述的X射线荧光分析仪，其特征在于，

所述X射线发生部以所述X射线相对于所述试料盒四周面中朝向所述检测仪释放的所述荧光X射线的距离最短地形成的所述试料盒外侧面倾斜既定角度照射的方式布置于所述试料盒的一侧面。

4.根据权利要求1所述的X射线荧光分析仪，其特征在于，还包括：

二次靶，布置于所述试料盒的布置有所述X射线发生部的一侧面的另一侧面，使得所述X射线发生部照射的X射线反射而再次与所述试料盒内侧存在的所述液态试料反应，增大所述X射线荧光的表达。

5.根据权利要求4所述的X射线荧光分析仪，其特征在于，

所述二次靶利用钛形成。

6.根据权利要求1所述的X射线荧光分析仪，其特征在于，

所述试料盒在内部利用树脂薄膜涂覆。