[发明专利]X射线荧光分析仪在审

专利信息
申请号: 202180002585.9 申请日: 2021-05-06
公开(公告)号: CN113950621A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 朴正权 申请(专利权)人: ISP株式会社
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 李盛泉;孙昌浩
地址: 韩国全罗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 荧光 分析
【说明书】:

发明涉及X射线荧光分析仪,包括:试料盒,容纳有液态试料;X射线发生部,向试料盒内部的一侧面照射X射线;及检测仪,为了在X射线发生部照射的X射线与试料盒内部的液态试料反应而向试料盒外侧释放荧光X射线时,使向试料盒外侧释放的荧光X射线在空气中的吸收实现最小化,从而沿着从试料盒内部向试料盒外侧释放的荧光X射线的距离最短的试料盒的一侧面布置,检测荧光X射线。根据本发明,可以在相对于试料盒内侧壁面最大限度邻接的状态下照射X射线,在使液态所致吸收最小化的同时,放大所释放的荧光X射线,无需真空排气便能够在大气环境下更精密测量对象元素。另外,布置二次靶,利用将由该靶发生的特性X射线再次照射于试料的结构,使不可避免浪费的射线再次返回到试料盒的内侧,从而可以增大其效率。

技术领域

本发明涉及用于液态试料所含元素测量的X射线荧光分析仪,更具体而言,涉及一种在相对于邻接试料盒内侧壁面最大限度邻接的状态下照射X射线,在使液态所致吸收最小化的同时,放大所释放的荧光X射线,无需真空排气便能够在大气环境下测量对象元素的X射线荧光分析仪。

背景技术

最近,随着全球对环保型制品的需求和资源循环型消费结构的增大,正在开发能够在生产制品的全过程中定性/定量分析材料的测量装备。

其中,利用X射线的X射线荧光分析装置能够以非破坏式分析要测量的物质,简化物质的预处理过程,在短时间内获得要测量的物质的信息,是一项在向试料照射X射线后,检测试料发生的荧光X射线,在制品生产及进口检查中广泛使用的技术。

另一方面,对于汽油、柴油、煤油等燃油中的硫浓度也规定了上限值,在原油精炼中或精练后,测量燃油中的硫浓度并进行管理控制。最近,欧美、日本也加强了限制,其规格上限值日益降低。

当利用通常的X射线分析诸如硫的轻元素浓度时,为了使空气中的氧及氮所致吸收最小化,如图1所示,为了将测量环境形成为真空,需准备真空腔室,将试料布置于内部,而形成真空腔室的真空需要较长时间。

而且,在照射X射线的过程中,在试料盒内部表达的荧光X射线,由于在试料盒外侧较远位置布置,因而在表达的荧光X射线无法具有充分能量的状态下,无法穿透到外侧,会在准确分析元素方面发生困难。

发明内容

技术问题

本发明的目的是提供一种在相对于试料盒内侧壁面最大限度邻接的状态下照射X射线,在使液态所致吸收最小化的同时,放大所释放的荧光X射线,无需真空排气便能够在大气环境下测量对象元素的X射线荧光分析仪。

本发明的目的不限于以上提及的目的,未提及的其他目的是本发明所属技术领域的普通技术人员可以从以下记载而明确理解的。

技术方案

为了达成如上所述目的,本发明的实施例包括:试料盒,容纳有液态试料;X射线发生部,向试料盒内部的一侧面照射X射线;及检测仪,为了在X射线发生部照射的X射线与试料盒内部的液态试料反应而向试料盒外侧释放荧光X射线时,使向试料盒外侧释放的荧光X射线在空气中的吸收实现最小化,从而沿着从试料盒内部向试料盒外侧释放的荧光X射线的距离最短的试料盒的一侧面布置,检测荧光X射线。

其中,X射线发生部可以以X射线相对于试料盒四周面中朝向检测仪释放的荧光X射线的距离最短地形成的试料盒内侧壁面平行地照射的方式布置于所述试料盒的一侧面。

其中,X射线发生部可以以X射线相对于试料盒四周面中朝向检测仪释放的荧光X射线的距离最短地形成的试料盒外侧面倾斜既定角度照射的方式布置于所述试料盒的一侧面。

其中,还可以包括二次靶,布置于所述试料盒的布置有X射线发生部所一侧面的另一侧面,使得X射线发生部照射的X射线反射而再次与试料盒内侧存在的液态试料反应,增大X射线荧光的表达。

其中,二次靶可以利用钛形成。

其中,试料盒可以在内部利用树脂薄膜涂覆。

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