[发明专利]防反射膜在审

专利信息
申请号: 202180003487.7 申请日: 2021-05-17
公开(公告)号: CN113973501A 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 小林智明 申请(专利权)人: 迪睿合株式会社
主分类号: G02B1/115 分类号: G02B1/115;G02B1/14;G02B1/18
代理公司: 北京挚诚信奉知识产权代理有限公司 11338 代理人: 严星铁;苗添豪
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 反射
【权利要求书】:

1.一种防反射膜,在基材上依次具有硬涂层、密合层和防反射层的防反射膜中,

所述防反射层从所述密合层侧起包含光学厚度为41nm~52nm的第一高折射率层、光学厚度为41nm~53nm的第一低折射率层、光学厚度为302nm~313nm的第二高折射率层、和光学厚度为135nm~196nm的第二低折射率层。

2.一种防反射膜,在基材上依次具有硬涂层、密合层和防反射层的防反射膜中,

所述防反射层从所述密合层侧起包含光学厚度为23nm~35nm的第一高折射率层、光学厚度为66nm~81nm的第一低折射率层、光学厚度为93nm~117nm的第二高折射率层、光学厚度为37nm~52nm的第二低折射率层、光学厚度为79nm~84nm的第三高折射率层、和光学厚度为146nm~155nm的第三低折射率层。

3.根据权利要求1或2所述的防反射膜,在所述防反射层上层叠有防污层。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的防反射膜,所述高折射率层的折射率为2.00~2.60,

所述低折射率层的折射率为1.20~1.60。

5.根据权利要求1所述的防反射膜,所述第一高折射率层包含Nb2O5作为主成分,且物理厚度为18nm~22nm,

所述第一低折射率层包含SiO2作为主成分,且物理厚度为28nm~36nm,

所述第二高折射率层包含Nb2O5作为主成分,且物理厚度为130nm~134nm,

所述第二低折射率层包含SiO2作为主成分,且物理厚度为92nm~95nm。

6.根据权利要求2所述的防反射膜,所述第一高折射率层包含Nb2O5作为主成分,且物理厚度为10nm~15nm,

所述第一低折射率层包含SiO2作为主成分,且物理厚度为45nm~55nm,

所述第二高折射率层包含Nb2O5作为主成分,且物理厚度为40nm~50nm,

所述第二低折射率层包含SiO2作为主成分,且物理厚度为25nm~35nm,

所述第三高折射率层包含Nb2O5作为主成分,且物理厚度为30nm~36nm,

所述第三低折射率层包含SiO2作为主成分,且物理厚度为100nm~106nm。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的防反射膜,波长940nm处的光的透过率为90%以上,

波长940nm处的光的反射率为5%以下。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的防反射膜,视感反射率Y为1.0%以下。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的防反射膜,CIELAB中的a*值为0~15,b*值为-18~0。

10.一种防反射膜的制造方法,在基材上将硬涂层、密合层和防反射层依次成膜的防反射膜的制造方法中,

所述防反射层从所述密合层侧起包含光学厚度为41nm~52nm的第一高折射率层、光学厚度为41nm~53nm的第一低折射率层、光学厚度为302nm~313nm的第二高折射率层、和光学厚度为135nm~196nm的第二低折射率层。

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