[发明专利]用于指纹传感器评估的方法和系统

权利要求书

1.一种评估介电结构的方法，所述介电结构覆盖指纹传感器中包括的多个感测结构并且限定所述指纹传感器的手指接收表面，所述方法包括以下步骤：

a)控制所述指纹传感器以改变第一组感测结构中的每个感测结构与第二组感测结构中的每个感测结构之间的电位差，并且针对所述第一组感测结构中的每个感测结构提供指示所述第二组感测结构中的每个感测结构与所述第一组感测结构中的感测结构之间的电容耦合的强度的感测信号；

b)控制所述指纹传感器以将其他感测结构分配给所述第一组感测结构和所述第二组感测结构；

c)执行步骤a)和步骤b)，直到针对所述多个感测结构中的每个感测结构提供了相应感测信号；以及

d)基于针对所述多个感测结构中的每个感测结构提供的相应感测信号，针对覆盖所述多个感测结构的所述介电结构提供评估结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中：

步骤d)还包括基于针对所述多个感测结构中的每个感测结构提供的相应感测信号形成所述介电结构的表示；以及

基于所述介电结构的表示提供所述评估结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述表示是灰度图像。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中：

针对所述第一组感测结构和所述第二组感测结构中的至少一者的至少两种不同配置执行步骤a)至步骤c)；以及

步骤d)中提供的所述评估结果基于针对所述至少两种不同配置中的每种配置针对所述多个感测结构中的每个感测结构提供的相应感测信号。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，在步骤a)中，通过改变所述第二组感测结构中的每个感测结构的电位并保持所述第一组感测结构中的每个感测结构的电位恒定来改变所述第一组感测结构中的每个感测结构与所述第二组感测结构中的每个感测结构之间的电位差。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述第二组感测结构中的感测结构的数目大于所述第一组感测结构中的感测结构的数目。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，由至少一个中间的感测结构将所述第一组感测结构中的每个感测结构与所述第二组感测结构中的每个感测结构分开。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，控制所述至少一个中间的感测结构的电位以防止所述至少一个中间的感测结构与所述第一组感测结构中的感测结构之间的电位差的改变。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中：

所述感测结构被布置成具有行和列感测结构的阵列；

所述第一组感测结构包括至少一行感测结构或至少一列感测结构；以及

所述第二组感测结构包括至少一行感测结构或至少一列感测结构。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，在步骤a)中，指示所述电容耦合的强度的所述感测信号基于在改变所述电位差之前执行的第一采样和在改变电位之后执行的第二采样。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：

e)基于所述评估结果修改至少一个指纹传感器特性。

12.一种指纹传感器评估系统，其用于对覆盖指纹传感器中包括的多个感测结构并且限定所述指纹传感器的手指接收表面的介电结构进行评估，所述指纹传感器评估系统包括：

用于与所述指纹传感器通信的指纹传感器接口；以及

耦接至所述指纹传感器接口的处理电路系统，其中，所述处理电路系统被配置成：

在所述指纹传感器的所述手指接收表面保持未被物理对象触及的情况下从所述指纹传感器获取图像；

基于所获取的图像对覆盖所述指纹传感器中的所述多个感测结构的所述介电结构进行评估；以及

提供所述评估的结果。