[发明专利]用于指纹传感器评估的方法和系统

说明书

一种评估介电结构的方法，包括以下步骤：a)改变第一组感测结构中的每个感测结构与第二组感测结构中的每个感测结构之间的电位差，并且为第一组感测结构中的每个感测结构提供指示第二组感测结构中的每个感测结构与第一组感测结构中的感测结构之间的电容耦合的强度的感测信号；b)将其他感测结构分配给第一组感测结构和第二组感测结构；c)执行步骤a)和步骤b)，直到针对多个感测结构中的每个感测结构提供了相应感测信号；以及d)基于相应感测信号提供评估结果。

技术领域

本发明涉及对覆盖指纹传感器中包括的多个感测结构并限定指纹传感器的手指接收表面的介电结构进行评估的方法，并且涉及指纹传感器评估系统。

背景技术

越来越多地使用各种类型的生物识别系统，以提供增加的安全性和/或增强的用户便利性

特别地，指纹感测系统由于其小形状因素、高性能和用户接受度而被采用在例如消费电子设备中。

在各种可用的指纹感测原理(例如，电容、光学、声学、热等)中，电容感测最常使用，特别是在尺寸和功耗是重要问题的应用中。

电容式指纹传感器通常提供指示若干感测结构中的每一个与放置在指纹传感器的表面上或在指纹传感器的表面上移动的手指之间的电容的测量值。

其结果是，感测结构与手指之间存在的任何东西都将强烈地影响电容式指纹传感器提供在感测结构顶部的结构上放置的手指的指纹的真实且有用的表示的能力。异常诸如超出规格的材料厚度、诸如划痕或气泡的各种缺陷以及可能已经布置在传感器涂层顶部上的介电结构或导电结构可能使包括传感器的认证系统的性能劣化，从而对用户体验产生负面影响。

作为指纹传感器封装过程的一部分，通常执行测试过程，包括用软印模触及指纹传感器表面并进行常规的指纹传感器读取，就像从指纹传感器获取指纹表示时一样。因此，可以检测到诸如以上提及的涂层缺陷或厚度变化的各种异常，并且可以拒绝或返工有缺陷的指纹传感器。在US 9 971 930中描述了这样的测试过程。

期望提供一种指纹传感器评估方法，该方法可以在不需要用如上所述的印模触及每个传感器的情况下针对覆盖感测结构的介电结构提供评估结果。

此外，期望提供在指纹传感器已经集成到产品中并交付给消费者之后对覆盖感测结构的介电结构的评估。

发明内容

鉴于现有技术的以上提及的缺点和其他缺点，本发明的目的是提供对覆盖电容式指纹传感器中的感测结构的介电结构的改进的评估。

根据本发明的第一方面，因此提供了一种评估介电结构的方法，该介电结构覆盖指纹传感器中包括的多个感测结构并且限定指纹传感器的手指接收表面，该方法包括以下步骤：

a)控制指纹传感器以改变第一组感测结构中的每个感测结构与第二组感测结构中的每个感测结构之间的电位差，并且为第一组感测结构中的每个感测结构提供指示第二组感测结构中的每个感测结构与第一组感测结构中的感测结构之间的电容耦合的强度的感测信号；

b)控制指纹传感器以将其他感测结构分配给第一组感测结构和第二组感测结构；

c)执行步骤a)和步骤b)，直到针对多个感测结构中的每个感测结构提供了相应感测信号；以及

d)基于针对多个感测结构中的每个感测结构提供的相应感测信号，针对覆盖多个感测结构的介电结构提供评估结果。

本发明基于以下认识：指纹传感器中的不同感测结构之间的电容耦合表示感测结构之间的材料的电气特性，并且覆盖多个感测结构的介电结构可以通过在指纹传感器的手指接收表面上不放置任何东西的情况下对传感器表面上的这种电容耦合进行感测来评估。特别地，不需要任何物理对象触及指纹传感器的手指接收表面。