[发明专利]用于集成半导体晶片装置的安装方法以及安装装置在审
申请号: | 202180010723.8 | 申请日: | 2021-01-12 |
公开(公告)号: | CN115004346A | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 罗曼·奥斯托尔特;诺伯特·安布罗斯;拉斐尔·桑托斯 | 申请(专利权)人: | LPKF激光电子股份公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;G01R31/28;H01L21/67;H01L23/538;H01L21/683 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;李少丹 |
地址: | 德国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成 半导体 晶片 装置 安装 方法 以及 | ||
1.一种安装方法,其用于集成半导体晶片装置,特别是作为制造中间产品的集成半导体组件结构,其包含:
具有由壁(3)构成的至少一个凹部(2)的玻璃基材(1),
将要被布置在该凹部(2)中的一个或多个半导体晶片,特别是半导体组件(9),以及
至少一个弹簧元件(19),其接合至该凹部(2)中并且构造在该玻璃基材(1)上,用于维持该半导体晶片(9)在该凹部(2)中的定位和/或定向,
其特征在于下列方法步骤:
设置该玻璃基材(1),其具有接合至将要被定位的该半导体晶片(9)的轮廓空间(K)中的松弛的弹簧元件(19),
设置弹簧操纵器基材(22),其具有适合至少一个弹簧元件(19)和/或将要被定位的该半导体晶片(9)的该轮廓空间(K)的操纵元件(25),
使该玻璃基材(1)相对于该弹簧操纵器基材(22)移位,以使它的操纵元件(25)进入该凹部(2),使该弹簧元件(19)预张紧且偏转至该半导体晶片(9)的该轮廓空间(K)之外,
将该半导体晶片(9)放置在该凹部(2)中,以及
使该玻璃基材(1)相对于该弹簧操纵器基材(22)向后移位,以使它的操纵元件(25)移出该半导体晶片(9)的该轮廓空间(K),释放该弹簧元件(19),从而该至少一个弹簧元件(19)作用于该半导体晶片(9)以维持其在该凹部(2)中的定位和/或定向。
2.如权利要求1所述的安装方法,其特征在于:该操纵元件(21)进入到该凹部(2)小于该玻璃基材(1)的厚度(D)的一半的最大穿透深度(t)。
3.如权利要求1或2所述的安装方法,其特征在于:该操纵元件(25)从下方进入该玻璃基材(1)的该凹部(2)。
4.如权利要求1至3中的任一项所述的安装方法,其特征在于:将具有梯形横截面且具有横向操纵边缘(26)的用于该弹簧元件(19)的突出物用作操纵元件(25)。
5.如权利要求1至4中的任一项所述的安装方法,其特征在于:在该凹部(2)中的该半导体晶片(9)被放置在处于升高的中间位置的该操纵元件(25)上且在该操纵元件(25)从该凹部(2)移出时下降到其在该凹部(2)中的最终位置。
6.如权利要求5所述的安装方法,其特征在于:通过施加负压,将放置在该操纵元件(25)上的该半导体晶片(9)在该中间位置固定于该操纵元件(25)上。
7.如权利要求1至6中的任一项所述的安装方法,其特征在于:在玻璃基材(1)与弹簧操纵器基材(22)之间的相对位移通过在这两个组件之间施加负压(p)来实现。
8.一种安装装置,其用于执行如权利要求1至7中的任一项所述的安装方法,其特征在于:能够相对于该玻璃基材(1)在其厚度方向(DR)上移位的弹簧操纵器基材(22),该弹簧操纵器基材设置有至少一个操纵元件(25),所述至少一个操纵元件适合该至少一个弹簧元件(19)和/或将要被定位的该半导体晶片(9)的轮廓空间(K)。
9.如权利要求8所述的安装装置,其特征在于:该弹簧操纵器基材(22)由上面布置有该至少一个操纵元件(25)的板状基体(23)构成。
10.如权利要求8或9所述的安装装置,其特征在于:该操纵元件(25)被设计为具有梯形横截面且具有横向操纵边缘(26)的用于该弹簧元件(19)的突出物。
11.如权利要求8至10中的任一项所述的安装装置,其特征在于:在该弹簧操纵器基材(22)中,特别是在基体(23)和/或该操纵元件(25)中形成在该厚度方向(DR)上连续的吸气通道(27,28)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造