[发明专利]光学式检测装置以及光学式检测装置中的光轴偏移判定方法

权利要求书

1.一种光学式检测装置(10)，具备：

发光部(30)，具备多个发光元件(32)；

受光部(20)，具备受光元件阵列(22)，上述受光元件阵列(22)由接受与上述发光部的照射光相应的反射光的多个受光像素(230)形成；

储存部(102)，储存与上述发光部的照射光所包含的光强度斑的产生位置对应的上述受光元件阵列中的基准受光区域；以及

判定部(100)，使用上述基准受光区域和上述受光元件阵列中的上述照射光的反射光所包含的光强度斑的检测受光区域的偏移来判定光轴偏移。

2.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其中，

上述多个受光像素在上述多个发光元件的配置方向上无间隙地配置，使得由多个受光像素接受上述反射光所包含的光强度斑。

3.根据权利要求1或2所述的光学式检测装置，其中，

上述多个受光像素在与上述多个发光元件的配置方向正交的方向上无间隙地配置，使得由多个受光像素接受上述反射光所包含的光强度斑。

4.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其中，

上述多个受光像素的各受光像素的尺寸被设定为由多个受光像素接受上述反射光所包含的光强度斑。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的光学式检测装置，其中，

上述判定部使用上述光强度斑的光强度和上述反射光的光强度的差分来判定上述检测受光区域。

6.根据权利要求5所述的光学式检测装置，其中，

上述判定部使用上述光强度斑的光强度和上述反射光的光强度来学习上述差分。

7.根据权利要求2～6中任一项所述的光学式检测装置，其中，

在上述基准受光区域与上述检测受光区域的偏移量大于预先规定的第一判定值的情况下，上述判定部判定光轴偏移，并执行光轴偏移的通知处理。

8.根据权利要求7所述的光学式检测装置，其中，

在上述基准受光区域与上述检测受光区域的偏移量小于上述第一判定值且大于预先规定的第二判定值的情况下，上述判定部计算发生光轴偏移的预测时期。

9.根据权利要求1所述的光学式检测装置，其中，

在上述基准受光区域与上述检测受光区域的偏移量小于作为光轴偏移的判定值的第一判定值且大于预先规定的第二判定值的情况下，上述判定部计算发生光轴偏移的预测时期。

10.一种光学式检测装置(10)中的光轴偏移判定方法，

通过受光部(20)获取受光元件阵列中的上述照射光的反射光所包含的光强度斑的检测受光区域，上述受光部(20)具备上述受光元件阵列(22)，上述受光元件阵列(22)由接受与具有多个发光元件(32)的发光部(30)的照射光相应的反射光的多个受光像素(230)形成，

获取与上述照射光所包含的光强度斑的产生位置对应，且预先准备的上述受光元件阵列中的基准受光区域，

使用上述基准受光区域和上述检测受光区域的偏移来判定光轴偏移。