[发明专利]用于优化的干涉散射显微镜的方法和装置

权利要求书

1.一种通过干涉散射显微镜对样品成像的方法，所述方法包括：

使用至少一个光源对样品进行照射，所述样品被保持在包括反射表面的样品位置处，使得形成反射信号，所述反射信号包括来自所述光源的光以及由所述样品散射的光；

在第一帧N₁的第一时间窗中检测输出光；

在第二帧N₂的第二时间窗中检测所述输出光；

计算比率测量信号R，R为N₁与N₂的比减去1；

根据本机相机帧N₁和N₂估计比率测量运动特征S＝(S_x，S_y)，S为比率测量图像，所述比率测量图像是根据沿x和y移动给定的运动矢量m＝(m_x，m_y)的不变样品所测量的；

将m估计为最一致矢量，使得使用S和m来近似R；以及

根据R、S和M，计算校正的比率测量对比度图像R*。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，根据本机图像N，估计像素位置(x，y)处的水平比率测量运动特征S_x和垂直比率测量运动特征S_y，如下：

S_x[x,y]＝(N[x+1,y]-N[x-1,y])/(2N[x,y])，

S_y[x,y]＝(N[x,y+1]-N[x,y-1])/(2N[x,y])。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，m被估计为所述最一致矢量，使得：

R＝m_xS_x+m_yS_y。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述校正的比率测量对比度图像R*被计算为：

R*＝R–(m_x S_x+m_y S_y)。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：移动所述样品以补偿运动。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，若检测到的运动高于预定水平，则触发警报。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括：使至少一个所述反射信号通过空间滤光片，所述空间滤光片被配置为实现入射辐射的强度降低，所述强度降低在预定的数值孔径内更大。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述光源为相干光源。

9.一种干涉散射显微镜，包括：

样品保持器，用于将所述样品保持在样品位置处；

照射源，被布置为提供照射光；

检测器；

光学系统，被布置为将所述照射光引导至所述样品位置，并且还被布置为收集反射的输出光，所述输出光包括从所述样品位置处散射的光以及从所述样品位置处反射的照射光，以及将所述输出光引导到所述检测器；

空间滤光片，被设置为过滤所述输出光，所述空间滤光片被布置为使得所述输出光通过，但在预定的数值孔径内比在较大的数值孔径处具有更大的强度降低；以及

计算机程序设备，被配置成指示装置执行根据前述权利要求中任一项所述的步骤。

10.根据权利要求9所述的干涉散射显微镜，还包括致动器，用于响应于所估计的运动矢量m来稳定所述样品。