[发明专利]用于校准用于测量物质对光的吸收率的设备的方法

权利要求书

1.一种由计算机（110）执行的计算机实现的方法（700），所述计算机配置成校准用于测量用于色谱系统（100）的物质（131）的光吸收率的设备，所述设备（131）包括：用于使流体能够被测量的导管（C）；配置成沿着光学路径（OP）向光传感器（S）发射光的光发射器（LE），所述光传感器配置成测量发射的光，所述光学路径与所述导管（C）相交；具有一个或多个光学滤波器的旋转盘（D），所述一个或多个光学滤波器中的每个被布置成当旋转时其中心穿过所述光学路径（OP）；配置成根据控制信号旋转所述盘（D）的致动器，所述方法包括：

控制（710）所述盘（D）旋转到第一位置，在所述第一位置，所述一个或多个光学滤波器中的第一滤波器与所述光学路径（OP）相交在第一点（P1）；

测量（720）第一光吸收值；

控制（730）所述盘（D）旋转到不同于所述第一位置的第二位置，在所述第二位置，所述第一滤波器仍然与所述光学路径（OP）相交在第二点（P2）；

测量（740）第二光吸收值；

生成（750）累积光吸收值；以及

通过将所述累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来校准（760）所述设备（131）。

2.根据权利要求1所述的方法（700），其中，通过使用所述第一光吸收值和所述第二光吸收值计算平均值来生成所述累积光吸收值。

3.根据权利要求2所述的方法（700），其中，所述平均值被计算为算术平均、几何平均和调和平均的选择。

4.如前述权利要求中任一项所述的方法（700），其中，所述盘（D）沿着平面延伸，并绕垂直于所述平面的旋转轴旋转，并且其中，所述第一点（P1）和所述第二点（P2）位于所述平面中，并且与所述旋转轴相距第一相等距离，并且彼此相距第二距离。

5.根据权利要求4所述的方法（700），其中，所述第二距离在1-1000 mm的范围内。

6.如前述权利要求中任一项所述的方法（700），其中，校准包括通过将所述累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来执行吸收率准确度测试，其中，比较包括计算所述累积光吸收值和所述参考光吸收值之间的绝对差。

7.如前述权利要求中任一项所述的方法（700），其中，校准包括通过以下方式执行线性准确度测试：

生成多个累积光吸收值，每个累积光吸收值针对不同幅度的发射的光生成，

将所述多个累积光吸收值与参考光吸收曲线进行比较，其中，比较包括计算所述多个累积光吸收值中的每个与所述曲线在对应幅度下的光吸收值之间的绝对差。

8.一种用于校准设备（131）的校准滤波器布置（300），所述滤波器布置（300）包括：

盘（D），其沿着平面延伸并且被布置成围绕旋转轴（410）旋转，并且将一个或多个光学滤波器（F1-F4）保持在沿着所述平面与所述旋转轴（410）相距第一距离（D1）处，以及

旋转驱动单元（M），其耦合到所述盘（D），并且配置成响应于接收到的控制信号将所述盘（D）围绕所述旋转轴旋转到预定位置。

9.根据权利要求8所述的滤波器布置（300），其中，所述盘（D）包括圆弓形或半圆形的形状。

10.根据权利要求8或9所述的滤波器布置（300），其中，所述盘（D）包括第一部分（PR1），

第二部分（PR2），

一个或多个光学滤波器（F1-F4），

一个或多个紧固布置（FA1-FA3），配置成将所述第一部分（PR1）固定到所述第二部分（PR2），

其中，所述第一部分（PR1）和所述第二部分（PR2）布置在所述平面的相对侧上，并且，

其中，所述一个或多个滤波器（F1-F4）沿着所述平面布置。