[发明专利]用于校准用于测量物质对光的吸收率的设备的方法

说明书

本发明涉及由计算机（110）执行的计算机实现的方法，该计算机配置成校准用于测量用于色谱系统（100）的物质（131）的光吸收率的设备，该设备（131）包括：用于使流体能够被测量的导管（C）；配置成沿着光学路径（OP）向光传感器（S）发射光的光发射器（LE），该光传感器配置成测量发射的光，该光学路径与导管（C）相交；具有一个或多个光学滤波器的旋转盘（D），所述一个或多个光学滤波器中的每个被布置成当旋转时其中心穿过光学路径（OP）；配置成根据控制信号旋转盘（D）的致动器，该方法包括：控制（710）盘（D）旋转到第一位置，在该第一位置，一个或多个光学滤波器中的第一滤波器与光学路径（OP）相交在第一点（P1），测量（720）第一光吸收值，控制（730）盘（D）旋转到不同于第一位置的第二位置，在该第二位置，第一滤波器仍然与光学路径（OP）相交在第二点（P2），测量（740）第二光吸收值，生成（750）累积光吸收值，通过将累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来校准（760）设备（131）。

技术领域

本公开涉及一种用于校准用于测量物质对光的吸收率的装置的方法。特别地，本公开涉及用于测量色谱过程中使用的物质对光的吸收率的设备。

背景技术

色谱法是一种用于分析和制备化学混合物或化学样本的众所周知的过程。样本通常可被悬浮在称为缓冲溶液或树脂的流体中。

在色谱法的上下文中，用于测量物质的光吸收率的设备被用于得到光吸收率和/或光散射和/或透射特性的定量测量。通常地，这种设备以对应于可见光、深紫外光、近紫外光和近红外光的波长操作。

为确保可靠的测量，定期监测或校准设备性能并将其记录在案。设备的校准包括将设备的性能与例如由制造商或定义的标准提供的参考性能数据进行比较。，这是例如根据ISO 17025的认可的测量服务所要求的。这也是遵守良好实验室规范（GLP）所要求的。

设备的校准通常可涉及线性准确度测试和/或光度（吸收率）准确度测试，此后称为吸收率测试。

能够在US9322770B2中找到常规解决方案的示例，其要求将滤波器手动插入到设备中。能够在US9279746B2中找到常规解决方案的另一个示例，其使用加压空气在两个不同的滤波器之间改变。

常规解决方案的缺点是要求由用户手动交互，例如通过在设备中（例如在配置成沿着光学路径发射特定波长的光的光发射器到配置成测量发射的光的光传感器之间）插入和移除光学滤波器。插入和移除光学滤波器的步骤是冗长且耗时的，并且进一步可能导致光学滤波器定位变化，因此给出具有低再现性的校准结果。

常规解决方案的另外的缺点是，插入的滤波器的不规则性（例如滤波器透镜上的灰尘）可能危害校准。

因此，存在对用于校准用于测量物质的光吸收率的设备的改进的方法和布置的需要。

发明目的

本发明实施例的目的是提供一种减轻或解决上述缺点和问题的解决方案。

发明内容

通过本文描述的主题来实现上述和进一步的目的。本文进一步定义了本发明的进一步的有利实现形式。

根据本发明的第一方面，上面提到的和其它目的通过由计算机执行的计算机实现的方法来实现，该计算机配置成校准用于测量用于色谱系统的物质的光吸收率的设备，该设备包括：用于使流体能够被测量的导管；配置成沿着光学路径向光传感器发射光的光发射器，该光传感器配置成测量发射的光，该光学路径与导管相交；具有一个或多个光学滤波器的旋转盘（D），所述一个或多个光学滤波器中的每个被布置成当旋转时其中心穿过光学路径；配置成根据控制信号旋转盘的致动器，该方法包括：控制盘旋转到第一位置，在所述第一位置所述一个或多个光学滤波器中的第一滤波器与光学路径相交在第一点，测量第一光吸收值，控制盘旋转到不同于第一位置的第二位置，在所述第二位置第一滤波器仍然与光学路径相交在第二点，测量第二光吸收值，生成累积光吸收值，通过将累积光吸收值与参考光吸收值进行比较来校准设备。