[发明专利]存储器子系统中的编程验证期间的字线缺陷检测

权利要求书

1.一种存储器装置，其包括：

存储器阵列，其包括多个字线；

选择性地耦合到所述多个字线的调节器电路，其中所述调节器电路经配置以执行检测例程以对来自所述多个字线中的所选择字线的负载电流进行取样并生成测得输出电压，其中所述测得输出电压相对于所述负载电流进行调制；

耦合到所述调节器电路的比较器电路，其中所述比较器电路经配置以基于所述测得输出电压与参考电压之间的差而生成比较结果；以及

耦合到所述比较器电路的本地媒体控制器，其中所述本地媒体控制器经配置以响应于所述比较结果满足阈值条件而标识所述所选择字线上的缺陷的存在。

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述调节器电路经配置以在与所述所选择字线相关联的编程操作的编程验证阶段期间对所述负载电流进行取样。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其中所述所选择字线上的所述负载电流通过施加到所述所选择字线的编程验证电压生成。

4.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述调节器电路经配置以执行校准例程以建立所述参考电压，其中所述参考电压包括当所述负载电流未施加到所述调节器电路时所述调节器电路的参考输出电压，并且其中所述比较器电路包括存储组件以存储所述参考电压直到执行所述检测例程为止。

5.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述调节器电路包括推挽式驱动器，所述推挽式驱动器包括输出级组件，并且其中所述测得输出电压表示所述输出级组件的栅极节点的操作点。

6.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述比较器电路经配置以将所述调节器电路的所述测得输出电压与所述参考电压进行比较以生成所述比较结果。

7.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述比较器电路经配置以将所述参考电压与共模电压进行比较以生成第一结果，并将所述调节器电路的所述测得输出电压与所述共模电压进行比较以生成第二结果，其中所述比较结果基于所述第一结果与所述第二结果之间的差。

8.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述本地媒体控制器经配置以在所述比较结果指示所述测得输出电压比所述参考电压小至少阈值量时标识所述所选择字线上的缺陷的所述存在。

9.根据权利要求1所述的存储器装置，其中所述所选择字线上的所述缺陷包括所述存储器阵列中的所述多个字线中的所述所选择字线与相邻字线之间的电短路。

10.一种方法，其包括：

在存储器装置上起始编程操作，所述编程操作包括编程阶段和编程验证阶段；

在所述编程阶段期间将编程电压施加到所述存储器装置的数据块的多个字线中的所选择字线，以将数据编程到对应于所述所选择字线的存储器单元；

在所述编程验证阶段期间将验证电压施加到所述所选择字线以从所述存储器单元读取所述数据；以及

在所述编程验证阶段期间测量来自所述所选择字线的负载电流，其中所述负载电流指示所述所选择字线上是否存在缺陷。

11.根据权利要求10所述的方法，其进一步包括：

将所述负载电流与参考值进行比较，其中所述负载电流与所述参考值之间的差指示所述所选择字线上是否存在所述缺陷。

12.根据权利要求10所述的方法，其进一步包括：

基于所述负载电流生成测得电压，其中所述测得电压相对于所述负载电流进行调制；以及

将所述测得电压与参考电压进行比较，其中所述测得电压与所述参考电压之间的差指示所述所选择字线上是否存在所述缺陷。

13.根据权利要求12所述的方法，其中生成所述测得电压包括将所述负载电流施加到所述存储器装置的调节器电路，并且其中所述测得电压包括所述调节器电路的输出。