[发明专利]最小化热损失并增加均匀性的加热的基板支撑件在审
申请号: | 202180065288.9 | 申请日: | 2021-10-07 |
公开(公告)号: | CN116420218A | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 帕万库马尔·拉马南德·哈拉帕霍利;甘加达尔·希拉瓦特;苏希尔·R·冈德哈勒卡尔 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;吴启超 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 最小化 损失 增加 均匀 加热 支撑 | ||
1.一种用于在处理腔室中使用的基板支撑件,包含:
加热板,具有支撑基板的上表面和与所述上表面相对的下表面,其中所述加热板包含具有第一导热系数的第一材料,并且其中所述加热板的侧壁和所述加热板的下表面用包含第二材料的覆盖板覆盖,所述第二材料具有小于所述第一导热系数的第二导热系数;
中空轴,耦接至所述加热板,其中所述中空轴包含具有第三导热系数的第三材料,所述第三导热系数小于所述第一导热系数;和
一个或多个加热元件,设置在所述加热板中。
2.如权利要求1所述的基板支撑件,其中所述中空轴在所述加热板的垂直下方耦接至所述加热板。
3.如权利要求1所述的基板支撑件,其中所述中空轴沿着所述加热板的外周缘耦接至所述加热板。
4.如权利要求1所述的基板支撑件,其中所述中空轴具有下部和耦接至所述加热板的上部,其中所述上部从所述下部径向向外延伸,且随后垂直向上延伸至所述加热板。
5.如权利要求1所述的基板支撑件,其中所述中空轴具有下部和耦接至所述加热板的上部,其中所述上部自所述下部径向向外且向上延伸至所述加热板。
6.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述第一导热系数大于130瓦/米开尔文(W/(m·K))。
7.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述加热板包括一个或多个升举销开口。
8.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述加热板由氮化铝(AlN)、氧化铝(Al2O3)、氧化铍(BeO)、氮化硼(BN)、氮化硅(Si3N4)或碳化硅(SiC)制成。
9.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述第二材料包含氮化铝(AlN)、氧化铝(Al2O3)、氧化铍(BeO)、氮化硼(BN)、氮化硅(Si3N4)或碳化硅(SiC)。
10.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述第一材料和所述第二材料包含相同的材料。
11.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述第一导热系数大于100瓦/米开尔文(W/(m·K))。
12.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述第二导热系数和所述第三导热系数小于100瓦/米开尔文(W/(m·K))。
13.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述第二材料是与所述第三材料相同的材料。
14.如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,其中所述加热板由具有所述第一导热系数的氮化铝制成,并且所述盖板由具有所述第二导热系数的氮化铝制成。
15.一种处理腔室,包含:
腔室主体,界定内部空间;和
如权利要求1至5中任一项所述的基板支撑件,设置在所述内部空间中。
16.如权利要求15所述的处理腔室,其中所述第一导热系数大于100瓦/米开尔文(W/(m·K))。
17.如权利要求15所述的处理腔室,其中所述第二导热系数和所述第三导热系数小于100瓦/米开尔文(W/(m·K))。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造