[发明专利]检查方法

说明书

本发明是对具备层叠偏振膜(11)和相位差膜(14)而成的圆偏振板(1)、以及层叠在圆偏振板(1)的相位差膜(14)侧且由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂构成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10)有无缺陷进行判断的检查方法。配置光源(4)、透过规定的波长的光的带通滤光片(2)、第一偏振部(3A)、被检查物(10)以及第二偏振部(3B)，以使剥离膜(16a)所具有的相位差的影响变小的方式使光向被检查物(10)的入射角θ发生变化。从第二偏振部(3B)侧对被被检查物(10)反射的光进行观察，从而判断圆偏振板(1)有无缺陷。

技术领域

本发明涉及检查方法。

背景技术

在液晶显示装置或有机EL显示装置等中使用的偏振板通常通过由两张保护膜夹着偏振片而构成。为了将偏振板粘贴于显示装置，在一方的保护膜层叠有粘合剂层，并进一步在粘合剂层层叠有剥离膜。另外，大多在另一方的保护膜也贴合有保护其表面的剥离膜(表面保护膜)。偏振板在像这样层叠有剥离膜的状态下流通搬运，并在显示装置的制造工序中对显示装置进行贴合时剥离剥离膜。

然而，对于偏振板而言，在其制造阶段中存在异物混入偏振片与保护膜之间、残留有气泡、或者在保护膜具有相位差膜的功能时内部具有取向缺陷的情况(以下，有时将这些异物、气泡以及取向缺陷统称为“缺陷”)。在将存在缺陷的偏振板贴合于显示装置的情况下，存在该缺陷的部位被视觉辨认为亮点、图像在缺陷的部位看上去变形的情况。特别是，被视觉辨认为亮点的缺陷在该显示装置的黑显示时容易被视觉辨认到。

因此，在将偏振板贴合于显示装置的前阶段(具备剥离膜的状态下的偏振板)中，进行用于对该偏振板的缺陷进行检测的检查。该缺陷的检查通常是利用了偏振板的偏振轴的光检查。具体而言，如专利文献1所示，在作为被检查物的偏振板与光源之间设置偏振滤光片，在此基础上，使该偏振板或偏振滤光片在平面方向上旋转，将它们各自的偏振轴方向设为特定的关系。在偏振轴方向彼此相互正交的情况下(即构成正交尼科耳状态(日文：クロスニコル)的配置的情况下)，通过了偏振滤光片的直线偏振光不通过偏振板。然而，若偏振板存在缺陷，则直线偏振光会在该部位透过，因此该光被检测出，从而可知缺陷的存在。另一方面，在偏振板与偏振滤光片的偏振轴方向彼此平行的情况下，通过了偏振滤光片的直线偏振光透过偏振板。然而，若偏振板存在缺陷，则直线偏振光在该部位被阻断，因此检测不到该光，从而可知缺陷的存在。由检查者通过目视对透过偏振板而来的光进行检测、或通过组合CCD相机和图像处理装置而成的图像解析处理值自动地进行检测，从而能够进行偏振板有无缺陷的检查。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平9-229817号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在偏振板为圆偏振板且剥离膜由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂(PET系树脂)构成的情况下，在该偏振板的检查中使用与该PET系树脂的波长分散在一定程度上相匹配的相位差滤光片(相当于上述偏振滤光片)。在此，在将圆偏振板和相位差滤光片以构成正交尼科耳状态的方式配置的情况下，根据上述原理，缺陷被视觉辨认为亮点，但圆偏振板所具有的相位差膜的取向缺陷或针孔等相位差值较低的区域中的亮点缺陷有时会被视觉辨认为黑点，在该情况下，与作为亮点进行检测相比，检测判断更为困难。特别是，在圆偏振板包含由聚合性液晶化合物的固化物构成的相位差膜的情况下，该倾向显著。

另外，专利文献1所示的检查方法的原理是对透过了被检查物的光进行观察。在该原理中被检查物存在变形缺陷(例如，在圆偏振板的裁切时产生的褶皱)的情况下，光路长度在正常部分和变形缺陷部分中几乎不发生变化，因此难以光学性地检测出变形缺陷。

另外，在如上述那样偏振板具备剥离膜的情况下，圆偏振板的偏振特性受到该剥离膜所具有的双折射的阻碍，因此难以利用现有的检查装置高精度地对存在于偏振板中的亮点等缺陷进行检测。