[发明专利]显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种显示面板工业检测方法，其特征在于，包括：

获取显示面板的发光工作频率；

对所述发光工作频率进行信号处理；

根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟；

控制所述采集模块在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；

对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

2.根据权利要求1所述的显示面板工业检测方法，其特征在于，所述根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟包括：

通过所述采集模块的外部触发端口获取信号处理后的所述发光工作频率；

根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率；

将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟。

3.根据权利要求1或2所述的显示面板工业检测方法，其特征在于，所述对所述发光工作频率进行信号处理包括：

对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

4.一种显示面板工业检测系统，其特征在于，包括：

检查机，与显示面板相连接，用于获取所述显示面板的发光工作频率；

信号处理模块，与所述检查机相连接，用于对所述发光工作频率进行信号处理；

采集模块，分别与所述显示面板和所述信号处理模块相连接，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；

检测分析模块，与所述采集模块相连接，用于对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

5.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述信号处理模块包括：

放大单元，用于对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

6.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述采集模块包括：

摄像模块，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；

所述摄像模块包括：

外部触发端口，与所述信号处理模块相连接，用于获取信号处理后的所述发光工作频率；

数据处理单元，与所述外部触发端口相连接，用于根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率，还用于将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟；

探测端口，与所述显示面板相连接，用于接收所述显示面板发出的触发信号。

7.根据权利要求4所述的显示面板工业检测系统，其特征在于，所述采集模块的快门时间小于所述显示面板的发光工作频率。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-3中任意一项所述的所述的显示面板工业检测方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-3中任意一项所述的所述的显示面板工业检测方法的步骤。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-3中任意一项所述的所述的显示面板工业检测方法的步骤。