[发明专利]显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质

说明书

本公开涉及显示面板视觉检测技术领域，特别涉及了一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质，包括获取显示面板的发光工作频率；对发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制采集模块在接收到显示面板发出的触发信号时，采集显示面板的视频信息，触发信号的频率与显示面板的发光工作频率相同；对视频信息进行分析，获取检测结果信息。通过采用将显示面板的时钟信号作为采集模块触发信号的触发模式，可以减少采集模块获取的显示面板视频信息中的频闪现象，从而在对视频信息进行分析时，算法无须再针对频闪现象作出处理。利用上述方法可以减少人力、物力成本，提高显示面板的产品质量。

技术领域

本发明涉及显示面板视觉检测技术领域，特别是涉及一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质。

背景技术

目前通常采用常规的AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)检测方案，来实现针对OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光半导体)显示面板的低灰阶(如32灰阶)抖动检测。

常规的面板AOI检测采用大面阵相机和小面阵相机的组合来采集被测产品的检测物图像，采用的是单张取图模式。然而，利用面阵相机直接对被测产品录制视频，存在频闪干扰的问题，难以提取视频信息中的抖动特征。

发明内容

基于此，有必要针对直接对被测产品录制视频会存在频闪干扰的问题，提供一种显示面板工业检测方法、系统、计算机设备及存储介质。

一种显示面板工业检测方法，包括获取显示面板的发光工作频率；对所述发光工作频率进行信号处理；根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟；控制所述采集模块在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

在其中一个实施例中，所述根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟包括通过所述采集模块的外部触发端口获取信号处理后的所述发光工作频率；根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率；将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟。

在其中一个实施例中，所述对所述发光工作频率进行信号处理包括对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

一种显示面板工业检测系统，包括检查机，与显示面板相连接，用于获取所述显示面板的发光工作频率；信号处理模块，与所述检查机相连接，用于对所述发光工作频率进行信号处理；采集模块，分别与所述显示面板和所述信号处理模块相连接，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；检测分析模块，与所述采集模块相连接，用于对所述视频信息进行分析，获取检测结果信息。

在其中一个实施例中，所述信号处理模块包括放大单元，用于对所述发光工作频率的峰值进行峰值放大。

在其中一个实施例中，所述采集模块包括摄像模块，用于根据信号处理后的所述发光工作频率设定采集模块的工作时钟，还用于在接收到所述显示面板发出的触发信号时，采集所述显示面板的视频信息，所述触发信号的频率与所述显示面板的发光工作频率相同；所述摄像模块包括：外部触发端口，与所述信号处理模块相连接，用于获取信号处理后的所述发光工作频率；数据处理单元，与所述外部触发端口相连接，用于根据奈奎斯特理论对信号处理后的所述发光工作频率进行信号还原，获取所述发光工作频率，还用于将所述发光工作频率设定为所述采集模块的工作时钟；探测端口，与所述显示面板相连接，用于接收所述显示面板发出的触发信号。

在其中一个实施例中，所述采集模块的快门时间小于所述显示面板的发光工作频率。